[发明专利]一种测量高斯光束参数的方法

权利要求书

1.一种测量高斯光束参数的方法，其测量步骤依次包括：

1）待测高斯光束：将激光束衰减后作为待测高斯光束；

2）将薄透镜放置于待测高斯光束中，测量薄透镜后面高斯光束的束腰位置：

   CCD相机在薄透镜后面记录不同位置z处的光强分布，从光强分布可以得到光斑半径值w，因此可以得到薄透镜后面聚焦高斯光束中光束半径任意相同的两个位置z1、z2，将上述的参数代入

 （1）

式中：为薄透镜后面聚焦高斯光束束腰位置；

3）更换焦距不同的薄透镜，重复步骤2）的测量方法，测得该薄透镜后面聚焦高斯光束的束腰位置；

4）确定待测高斯光束的束腰位置和束腰半径，将步骤（2）和（3）得到的两个聚焦高斯光束的束腰位置、和对应的薄透镜焦距F1、F2代入

（2）

式中：l为高斯光束对应的光波波长，解该方程组即可得到待测高斯光束的束腰位置L₀和束腰半径w₀。