[发明专利]半导体器件的导线焊点强化结构有效
申请号: | 201410308072.2 | 申请日: | 2014-06-30 |
公开(公告)号: | CN104064540B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 石海忠;王洪辉;郇林香;缪小勇;成明建 | 申请(专利权)人: | 南通富士通微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L23/495 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)11435 | 代理人: | 孟阿妮 |
地址: | 226006 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 导线 强化 结构 | ||
1.一种半导体器件的导线焊点强化结构,包括框架内引线,所述框架内引线的表面具有焊接区,所述焊接区焊接有导线,其特征在于,还包括:
锁定卡;
所述锁定卡包括按压部,所述按压部向外悬伸有锁定部,所述按压部压在所述导线上,所述锁定部穿过所述框架内引线,且卡在所述框架内引线背离所述导线的一侧。
2.根据权利要求1所述的半导体器件的导线焊点强化结构,其特征在于,所述锁定部具有远离所述按压部的悬伸末端,所述悬伸末端弯折扣于所述框架内引线背离所述导线的一侧。
3.根据权利要求2所述的半导体器件的导线焊点强化结构,其特征在于,所述按压部上同向向外悬伸有两个锁定部,两所述锁定部的所述悬伸末端相向或相背弯折。
4.根据权利要求1-3任一项所述的半导体器件的导线焊点强化结构,其特征在于,所述导线为铝线,所述铝线背离所述框架内引线的一侧具有弧形凸起,所述按压部具有弧形拱起,所述弧形凸起与所述弧形拱起吻合配合。
5.根据权利要求4所述的半导体器件的导线焊点强化结构,其特征在于,还包括框架载片台,所述框架载片台上固定连接有芯片,所述导线远离所述框架内引线的一端与所述芯片焊接。
6.根据权利要求1-3任一项所述的半导体器件的导线焊点强化结构,其特征在于,所述导线为铝带,所述按压部朝向所述铝带的一侧为平面,所述平面与所述铝带的表面吻合配合。
7.根据权利要求6所述的半导体器件的导线焊点强化结构,其特征在于,还包括框架载片台,所述框架载片台上固定连接有芯片,所述导线远离所述框架内引线的一端与所述芯片焊接。
8.根据权利要求1-3任一项所述的半导体器件的导线焊点强化结构,其特征在于,所述导线的两侧均设置有贯穿所述框架内引线的通孔,所述锁定部通过所述通孔穿过所述框架内引线。
9.根据权利要求1-3任一项所述的半导体器件的导线焊点强化结构,其特征在于,所述框架内引线的边缘处设置有凹槽,所述锁定部通过所述凹槽穿过所述框架内引线。
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