[发明专利]触控面板的感测数据处理方法和触控装置

说明书

技术领域

本发明涉及触控数据的处理，尤其涉及一种触控面板上多个触控区域的交界处的感测数据的处理方法。

背景技术

随着制程技术的进步，具有大尺寸触控面板的电子产品日益普及。为了避免晶片尺寸随之增加、产品轻薄短小化与降低生产成本，大尺寸触控面板通常借由多颗晶片来进行数据处理。换言之，上述大尺寸触控面板分为多个触控区域，每一触控区域由相对应的单一晶片来进行感测数据处理。

然而，在任意两个相邻触控区域所对应的两颗晶片的数据处理交界处，往往容易发生触控事件的误判。举例来说，当使用者以一根手指触碰两个触控区域的交界处时，每一颗晶片分别计算出一个感测坐标，将导致一个触碰物件(例如，一根手指；单点触控)被误判为两个触碰物件(例如，两根手指；多点触控)的情形发生。

因此，需要一种触控区域交界处的感测数据处理方法，来解决上述问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的之一在于提供一种处理触控面板上多个触控区域的交界处感测数据的处理方法，来解决上述问题。

依据本发明一实施例，其公开了一种触控面板的感测数据处理方法。该触控面板至少包含彼此相邻的第一触控区域与第二触控区域。该第一触控区域由第一控制电路来扫描并取得相对应的感测数据。该第二触控区域由第二控制电路来扫描并取得相对应的感测数据。该方法包含下列步骤：利用该第二控制电路将该第二触控区域之中的第一传输区的感测数据传输予该第一控制电路，其中该第一传输区包含该第二触控区域中邻近第一、第二触控区域交界处的N条感应线，且N为正整数；利用该第一控制电路将该第一传输区的感测数据作为该第一控制电路于邻接第一、第二触控区域交界处的第一端部数据；利用该第一控制电路至少依据该第一端部数据来找出第一参考边界；利用该第二控制电路至少依据该第一传输区来找出第二参考边界；以及利用第一、第二控制电路以分别经由第一、第二参考边界判断该触控面板上的触控物件位置。

本发明所提供的感测数据处理方法可应用于具有多颗晶片来判断触控信息的触控装置中，使得触控装置不仅节省晶片接脚数、具轻薄短小化、降低生产成本，更可准确地判断触控面板上的触控信息。

附图说明

图1为本发明触控装置一实施例的示意图。

图2为本发明处理图1所示触控面板上多个触控区域的感测数据的方法的一个实施例的流程图。

图3为图1所示的控制单元采用图2所示的方法来判断图1所示的触控面板上触控物件位置的第一实作范例的示意图。

图4为图3所示的多个控制电路各自的数据区的示意图。

图5为本发明依据参考边界来判断触控面板上的触控信息的方法的一个实施例的流程图。

图6绘示了图3所示的多个控制电路采用图5所示的方法来判断该触控物件位置的第一实作范例的示意图。

图7绘示了图3所示的多个控制电路采用图5所示的方法来判断该触控物件位置的第二实作范例的示意图。

图8绘示了图3所示的多个控制电路采用图5所示的方法来判断该触控物件位置的第三实作范例的示意图。

图9绘示了图3所示的多个控制电路采用图5所示的方法来判断该触控物件位置的第四实作范例的示意图。

图10为图1所示的控制单元采用图2所示的方法来判断图1所示的触控面板上触控物件位置的第二实作范例的示意图。

图11为图10所示的多个控制电路各自的数据区的示意图。

图12为图1所示的控制单元采用图2所示的方法来判断图1所示的触控面板上触控物件位置的第三实作范例的示意图。

图13为图12所示的多个控制电路各自的数据区的示意图。

图14为图1所示的控制单元采用图2所示的方法来判断图1所示的触控面板上触控物件位置的第四实作范例的示意图。

图15为图14所示的多个控制电路各自的数据区的示意图。

主要部件附图标记：

100触控装置

110触控面板

110_1、110_2、110_3触控区域

120控制单元

120_1、120_2、120_3控制电路

210～240、532～569步骤

RA、RB、M1、M2、M3、M4参考边界

O1、O2、O3 参考原点

TZ1、TZ2、TX1、TX2传输区

AD、BD交界处

SD1、SD2、SD3、TD1、TD2、TA1、TA2感测数据