[发明专利]LED产品质量检测分类系统及其检测分类方法在审

专利信息
申请号: 201410315880.1 申请日: 2014-07-03
公开(公告)号: CN104089758A 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 刘石神;吕慧峰;陈要玲;刘从峰;张晶晶;王伟辉 申请(专利权)人: 常州光电技术研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人: 徐琳淞
地址: 213164 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: led 产品质量 检测 分类 系统 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种LED产品质量检测分类系统,其特征在于:包括开关(1)、样品电源(2)、样品台(3)、光谱仪(4)和电脑(5);所述开关(1)连接样品电源(2)和电脑(5);所述样品电源(2)包括直流电源(21)和交流电源(22);所述样品电源(2)的输出端连接样品台(3)的输入端;所述样品台(3)包括芯片样品台(31)和灯具样品台(32);所述直流电源(21)的输出端连接芯片样品台(31);所述交流电源(22)的输出端连接灯具样品台(32);所述光谱仪(4)为光纤光谱仪,其光纤探头对准样品台(3);所述光谱仪(4)的输出端连接电脑(5);所述电脑(5)的输出端连接样品电源(2)。

2.根据权利要求1所述的LED产品质量检测分类系统,其特征在于:所述光谱仪(4)还包括光阑。

3.根据权利要求1或2所述的LED产品质量检测分类系统,其特征在于:所述直流电源(21)为可编程直流电源;所述交流电源(22)包括微处理器和USB继电器,所述微处理器控制USB继电器的通断,所述USB继电器的输出端连接灯具样品台(32)。

4.根据权利要求3所述的LED产品质量检测分类系统,其特征在于:所述芯片样品台(31)和灯具样品台(32)均有多个。

5.根据权利要求4所述的LED产品质量检测分类系统,其特征在于:所述样品台(3)底部设置传送带。

6.一种LED产品质量检测分类系统的检测分类方法,其特征在于:包括开关(1)、样品电源(2)、样品台(3)、光谱仪(4)和电脑(5);所述样品电源(2)包括可编程的直流电源(21)和交流电源(22);所述样品台(3)包括芯片样品台(31)和灯具样品台(32);所述开关(1)同时连接电脑(5)、直流电源(21)和交流电源(22);所述电脑(5)同时连接直流电源(21)、交流电源(22)以及光谱仪(4);所述直流电源(21)通过电脑(5)控制输出不同大小的恒定电流;所述交流电源(22)包括微处理器和USB继电器,所述电脑(5)控制微处理器进而控制USB继电器(22)通电或断电;所述光谱仪(4)为光纤光谱仪,其光纤探头对准芯片样品台(31)或灯具样品台(32),采集光谱信息并传输至电脑(5);

其检测分类的方法为:

步骤一:将样品放在样品台(3)上;

步骤二:根据样品选择测试软件,输入样品的电流电压以及区分产品等级的数值参数;

步骤三:开始测试,样品电源(2)给样品供电,样品点亮;同步地,光谱仪(4)开始工作,按时间间隔同步地采集样品的光谱数据并传输给电脑(5);采集结束,关闭样品电源(2),样品熄灭;

步骤四:电脑(5)计算分析光谱数据,与步骤二中输入的区分产品等级的标准比较,得到该样品的质量等级;

步骤五:取下已测样品,换上新样品,重复步骤一至步骤四。

7.根据权利要求6所述的LED产品质量检测分类系统的检测分类方法,其特征在于:所述步骤一中,若样品为LED芯片,将样品放置在芯片样品台(31),将芯片样品台(31)的输入端与直流电源(21)连接;所样品为LED灯具,将样品放置在灯具样品台(32),将灯具样品台(32)的输入端与USB继电器连接;所述步骤二中,若样品为LED芯片,选择直流测试软件;若样品为LED灯具,选择交流测试软件。

8.根据权利要求7所述的LED产品质量检测分类系统的检测分类方法,其特征在于:所述步骤二中,区分产品等级的参数为峰值波长偏移量的大小;所述步骤四中,电脑(5)计算步骤三测试的光谱数据的峰值波长,并将峰值波长与点亮时间进行指数函数拟合,计算出样品被点亮瞬时和测试结束时的峰值波长偏移量,根据峰值波长偏移量的大小落入的步骤二中设定的等级区间来对被测样品进行分级。

9.根据权利要求8所述的LED产品质量检测分类系统的检测分类方法,其特征在于:所述光谱仪(4)包括光阑;所述步骤四中,所计算出的峰值波长若过小或过大,则调节光阑开孔大小后重新测试,直到峰值波长处于正常范围;所述步骤五中,在测试同一批次样品时,不再调节光阑。

10.根据权利要求9所述的LED产品质量检测分类系统的检测分类方法,其特征在于:所述步骤三中,在对一个样品进行测试的同时,用样品台(3)夹装下一个待测样品。

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