[发明专利]时钟抖动和电源噪声分析

权利要求书

1.一种方法，包括：

由噪声分析器接收第一信号；

通过所述噪声分析器基于所述第一信号生成第二信号；

通过基延迟元件将所述第二信号时间移位一基延迟时间；以及

通过比较器将经时间移位的第二信号的实际测量与第三理论信号的理论测量相比较，其中所述第三理论信号是如果第一信号无高频噪声和低频噪声的话原本将从所述第一信号生成的所述第二信号的一版本。

2.如权利要求1所述的方法，进一步包括：

通过至少一个精细延迟元件将所述第二信号时间移位一精细延迟时间。

3.如权利要求2所述的方法，进一步包括：

通过所述比较器将对所述经时间移位的第二信号所进行的精细测量与对所述第三理论信号所进行的理论精细测量相比较，其中所述精细测量和所述理论精细测量在时间上与由所述至少一个精细延迟所提供的时间移位相对应。

4.如权利要求1所述的方法，其中所述第一信号是周期性信号，所述第二信号是第二周期性信号，并且所述第二信号的周期是所述第一信号的周期的倍数。

5.如权利要求1所述的方法，其中所述第一信号包括数字时钟信号的周期性方波并且所述第二信号包括由所述噪声分析器所生成的方波，所述第二信号的周期是所述第一周期性方波信号的周期的倍数。

6.如权利要求5所述的方法，其中所述基延迟时间等于所述第一信号的所述周期。

7.如权利要求1所述的方法，其中所述第一信号包括低频噪声和高频噪声中的至少一个。

8.一种噪声分析器系统，包括：

信号发生器，其配置为接收第一信号并且基于所述第一信号生成第二信号，

基延迟元件，其配置为将所述第二信号时间移位第一时间延迟，

多个精细延迟元件，其配置为将所述第二信号进一步时间移位至少一个精细时间延迟；以及

比较器，其配置为将经时间移位的第二信号的实际测量与第三理论信号的理论测量相比较，其中所述第三理论信号是如果所述第一信号无高频噪声和低频噪声这二者的话原本将从所述第一信号生成的所述第二信号的一版本。

9.如权利要求8所述的系统，其中所述比较器进一步配置为将对所述经时间移位的第二信号所进行的精细测量与对所述第三理论信号所进行的理论精细测量相比较。

10.如权利要求9所述的系统，其中所述精细测量和所述理论精细测量在时间上与由所述多个精细延迟元件中的至少一个所提供的时间移位相对应。

11.如权利要求8所述的系统，其中所述第一信号是周期性信号，所述第二信号是第二周期性信号，并且所述第二信号的周期是所述第一信号的周期的倍数。

12.如权利要求8所述的系统，其中所述第一信号包括数字时钟信号的周期性方波并且所述第二信号包括由所述信号发生器所生成的方波，所述第二信号的周期是所述第一周期性方波信号的周期的倍数。

13.如权利要求12所述的系统，其中所述第一时间延迟等于所述第一信号的所述周期。

14.如权利要求8所述的系统，其中所述第一信号包括低频噪声和高频噪声中的至少一个。

15.一种噪声分析器，包括：

信号发生器，其配置为接收第一信号并且基于所述第一信号生成第二信号，

基延迟元件，其配置为将所述第二信号时间移位第一时间延迟；以及

比较器，其配置为将经时间移位的第二信号的实际测量与第三理论信号的理论测量相比较，其中所述第三理论信号是如果所述第一信号无高频噪声和低频噪声这二者的话原本将从所述第一信号生成的所述第二信号的一版本。

16.如权利要求15所述的噪声分析器，进一步包括多个精细延迟元件，所述多个精细延迟元件配置为将所述第二信号进一步移位多个时间延迟。

17.如权利要求15所述的噪声分析器，其中所述比较器进一步配置为将对所述经时间移位的第二信号所进行的精细测量与对所述第三理论信号所进行的理论精细测量相比较，其中所述精细测量和所述理论精细测量在时间上与由所述多个精细延迟元件中的至少一个所提供的时间移位相对应。