[发明专利]预压力残存率的侦测方法有效

专利信息
申请号: 201410321819.8 申请日: 2014-07-08
公开(公告)号: CN105319235B 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 蔡孟勳;谢文馨;杨安石;袁伟翔;黄泓纬;刘崇庆;黄逸羣 申请(专利权)人: 上银科技股份有限公司
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20;G01L5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 宋焰琴
地址: 中国台湾*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 预压 残存 侦测 方法
【说明书】:

技术领域

本发明与预压力侦测方法有关,特别是关于一种预压力残存率的侦测方法。

背景技术

公知许多进给或传动装置,例如滚珠螺杆装置、线性滑轨装置、齿轮机构等等,其中二相对移动的组件之间会在制造或组装的过程中被施予预压力,以消除背隙并提高结构刚性,进而达到高速及高定位精度的性能。

以滚珠螺杆装置为例,其螺杆与螺帽之间会放置较大尺寸的滚珠,以产生具前述效果的预压力。然而,在运转过程中,滚珠会与螺杆及螺帽相互磨耗,使得预压力逐渐减小,导致定位精度逐渐降低进而产生失步(lost motion)的问题。因此,若未能在预压力失效前实时更换滚珠,将使机台产生不良的运作精度。但若采用定期更换滚珠的方式以避免预压力失效,则容易更换掉尚未过度磨耗的滚珠,造成成本上的浪费。因此,较佳的解决方式系对预压力进行侦测,以于预压力降低至预定的残存量时进行补正。

传统量测滚珠螺杆装置的预压力的方法,是以拉力计勾住螺帽而进行量测,再将拉力计测得的弹簧力换算为滚珠螺杆装置的预压力,但此量测方法进行时需将机台停机,而无法进行在线量测,且需代入相关的物理参数(例如弹性系数)以进行换算,如此会有参数不准确及换算过程产生的误差。

另一种公知预压力量测方法,是使用扭力计量测滚珠螺杆的扭力变化,并将量测到的扭力等效为螺杆的预压力,但扭力计价格昂贵且因易磨耗而使用寿命短。

又一种公知预压力量测方法,是利用加速规或位移计量测滚珠螺杆的振动情况以估测预压力,但此方法容易受到其他振动源造成的噪声干扰,因此无法准确预估预压力。

发明内容

本发明的目的在于提供一种预压力残存率的侦测方法,用以在受测物运转时侦测其所受预压力的残存率,且该侦测方法成本低、使用寿命长、反应速度快、侦测结果较为准确。

为实现上述目的,本发明提供的预压力残存率的侦测方法包含有下列步骤:

a.在可相对移动的二组件其中之一安装一温度传感器;

b.使该二组件相对移动,同时记录该温度传感器所感测到的温度随时间的变化,进而得到一初始温升曲线;

c.使该二组件相对移动,同时记录该温度传感器所感测到的温度随时间的变化,进而得到一侦测温升曲线;以及

d.比较该初始温升曲线与该侦测温升曲线的差异,进而得到该二组件在该步骤c进行时相对于该步骤b进行时的预压力残存率。

举例而言,该二组件可分别为一滚珠螺杆装置的一螺杆及一螺帽,该步骤a及该步骤b可于该滚珠螺杆装置出厂前进行,该步骤c及该步骤d可于该滚珠螺杆装置开始使用后进行。当该滚珠螺杆装置的预压力减少时,滚珠与螺杆及螺帽之间的摩擦力及其所产生的热能也会随之减少,因此,将螺杆或螺帽在运转时的温升曲线与其出厂前的温升曲线进行比较,即可侦测出预压力残存率。

由此,本发明可在受测物(亦即该二组件)运转时侦测其所受预压力的残存率,而且,由于温度传感器价格低且无磨耗问题,因此本发明的侦测方法成本低且使用寿命长,温度传感器更有反应速度快的优点,此外,该侦测方法不需由复杂的分析过程,也不需将物理参数代入公式以计算出结果,因此本发明的侦测方法有较佳的强健性(robustness)、侦测结果较为准确。

附图说明

图1为本发明一较佳实施例所提供的预压力残存率的侦测方法的步骤图;

图2为一应用该预压力残存率的侦测方法的滚珠螺杆装置的剖视示意图;

图3类同于图2,惟该预压力残存率的侦测方法中的一温度传感器在图2及图3是设于不同位置;以及

图4为一温度对时间的曲线图,显示该预压力残存率的侦测方法中的一初始升温曲线及一侦测升温曲线。

附图中主要组件符号说明:

10组件(螺杆),20组件(螺帽),22安装孔,24外周面,26端面,30温度传感器,40滚珠螺杆装置,50滚珠,60初始温升曲线,62线性区段,70侦测温升曲线,72线性区段。

具体实施方式

有关本发明所提供的预压力残存率的侦测方法的详细构造、特点、组装或使用方式,将于后续的实施方式详细说明中予以描述。然而,在本发明领域中具有通常知识者应能了解,该些详细说明以及实施本发明所列举的特定实施例,仅是用于说明本发明,并非用以限制本发明的专利申请范围。

申请人首先在此说明,在以下将要介绍的实施例以及附图中,相同的参考号码,表示相同或类似的组件或其结构特征。

请参阅各附图,本发明一较佳实施例所提供的预压力残存率的侦测方法包含有下列步骤:

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