[发明专利]偏光板的检查方法

说明书

技术领域

本发明涉及偏光板的检查方法。

背景技术

在液晶显示器中，会使用各种光学功能性薄膜。作为所述光学功能性薄膜，已知有薄膜状的偏光板。在所述偏光板的一个面上形成粘合层，所述粘合层用于将偏光板接合在液晶显示器的玻璃基板等上。在接合于玻璃基板等之前，用脱模薄膜覆盖所述粘合层。

在这种偏光板的制造工序中，有时会产生如下的各种缺陷：在薄膜表面或薄膜内部附着异物、或者产生污染和瑕疵等。因此，在偏光板的制造工序中要进行缺陷检查。缺陷检查是从光源对层压薄膜照射光，用照相机拍摄偏光板的透射光或反射光，并根据由该拍摄得到的图像而进行检查。

在日本特开2007－213016号公报中，公开了一种缺陷检查装置，所述缺陷检查装置是在使偏光滤光片介于偏光板与照相机之间的状态下，拍摄偏光板的透射光。将偏光滤光片配置成，其偏光轴与偏光板的偏光轴正交、即成为所谓的交叉尼科尔状态。由此，在偏光板不存在缺陷时，由于偏光板的透射光的振动方向与偏光滤光片的偏光轴正交，所以，所述透射光被偏光滤光片遮断。因此，通过透射光而得到的图像(透射图像)的整个面都是黑色图像。对此，在偏光板存在缺陷时，透过了所述缺陷部分的透射光的偏光状态发生变化，由此使所述缺陷部分的透射光透过偏光板。因此，与透射图像的缺陷部分相对应的部分的亮度变高。由此，能够检查偏光板是否存在缺陷。

附着在偏光板上的脱模薄膜，在液晶显示器的制造工序中，最终会从偏光板上剥离。因此，即使脱模薄膜本身存在缺陷，但只要粘合层的保护功能没有受到损伤，则说起来也没有必要将所述脱模薄膜的缺陷判断是缺陷。但是，在以往的检查方法中，还无法识别偏光板的缺陷和脱模薄膜的缺陷。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2007－213016号公报

发明内容

发明所要解决的课题

本发明的目的是提供偏光板的检查方法，所述方法能够以高准确度且简便地判断偏光板是否不良。

用于解决课题的方法

1.一种偏光板的检查方法，所述方法是从位于偏光板一侧的光源照射光，并由利用位于所述偏光板的相反侧的摄影器材获取的图像来检测缺陷，在所述偏光板的至少一个面上接合有脱模薄膜，其中，在满足下述数式1的情况下，则判断为偏光板是合格品。

[数式1]

A/B≦0.2

在上式中，A是在所述获取的图像中检测到的黑点所占的像素数，B是在所述偏光板的某一侧配置了偏光滤光片、以使其吸收轴与所述偏光板正交之后，在获取的图像中的所述黑点的位置处检测到的亮点所占的像素数。

2.根据所述项目1的偏光板的检查方法，其中，所述黑点在灰度(gray level)128的基准光量下的灰度是15～128。

3.根据所述项目1的偏光板的检查方法，其中，所述亮点在灰度(gray level)0的基准光量下的灰度是15～255。

4.根据所述项目1的偏光板的检查方法，其中，所述A为1～10000。

5.根据所述项目1的偏光板的检查方法，其中，所述B为1～100000。

6.根据所述项目1的偏光板的检查方法，其中，在所述A/B为0.1以下时，则判断为偏光板是合格品。

发明效果

本发明的偏光板的检查方法，能够减少虽然偏光板是合格品、但却由于脱模薄膜的不良而被判断为不良品的几率，因具有高准确度的特性而能够提高生产率。

本发明的偏光板的检查方法能够简便地识别出偏光板的不良和脱模薄膜的缺陷。

附图说明

图1是概略性地表示本发明的偏光板的检查方法(白色模式)的一个具体例子的图。

图2是概略性地表示本发明的偏光板的检查方法(黑色模式)的一个具体例子的图。

图3是表示虽然偏光板本身是合格品、但在接合了不良的脱模薄膜情况下的黑点缺陷以及亮点缺陷的图。

图4是表示在本发明的一个具体例子中的、所获取的图像中的黑点缺陷的图。

具体实施方式

本发明涉及偏光板的检查方法，所述方法是从位于偏光板一侧的光源照射光，并由利用位于所述偏光板的相反侧的摄影器材获取的图像来检测缺陷，在所述偏光板的至少一个面上接合有脱模薄膜，其中，在满足数式1的情况下，可判断为偏光板是合格品，从而能够识别偏光板的不良和脱模薄膜的不良，能够减少虽然偏光板是合格品但却被判断为不良品的几率，因具有高准确度的特性而能够提高生产率。