[发明专利]一种高调谐压控透明氧化镍薄膜电容器的制备方法有效
申请号: | 201410323819.1 | 申请日: | 2014-07-08 |
公开(公告)号: | CN104078238B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 李玲霞;许丹;于士辉;董和磊;金雨馨 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | H01G4/33 | 分类号: | H01G4/33;C23C14/58;C23C14/35;C23C14/08 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人: | 张宏祥 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 调谐 透明 氧化 薄膜 电容器 制备 方法 | ||
1.一种高调谐压控透明氧化镍薄膜电容器的制备方法,具有如下步骤:
(1)清洗基片
将表面附有电极的透明导电玻璃基片放入有机溶剂中超声清洗,用去离子水冲洗后在氮气流中进行干燥;
(2)制备NiO薄膜
(a)将步骤(1)干燥后的导电玻璃基片放入磁控溅射样品台上,将金属Ni靶材装置在相应的射频溅射靶上,再将磁控溅射系统的本底真空抽至6.0×10-6Torr,然后加热导电玻璃基片至600℃;
(b)以高纯Ar和O2作为溅射气体,溅射气压为10mTorr,溅射功率为150W,进行溅射沉积得到NiO薄膜;
(c)将步骤(b)得到的NiO薄膜置于气氛炉中进行后退火处理,通入纯度为99%的O2,退火气压为0.02Mpa;
(3)制备顶电极
(a)将步骤(2)(c)退火后的NiO薄膜放入磁控溅射样品台上,将ITO靶材装置在相应的射频溅射靶上,然后将磁控溅射的本底真空抽至6.0×10-6Torr,加热衬底至600℃;
(b)以高纯Ar和O2作为溅射气体,溅射气压为10mTorr,溅射功率为200W,溅射沉积ITO薄膜顶电极;制得高调谐压控透明氧化镍薄膜电容器。
2.根据权利要求1所述的一种高调谐压控透明氧化镍薄膜电容器的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)的基片为FTO导电玻璃基片或者ITO导电玻璃基片,其表面附有电极。
3.根据权利要求2所述的一种高调谐压控透明氧化镍薄膜电容器的制备方法,其特征在于,所述FTO导电玻璃的表面附有掺氟氧化铟的电极,ITO导电玻璃的表面附有掺铟氧化锡的电极。
4.根据权利要求1所述的一种高调谐压控透明氧化镍薄膜电容器的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)的有机溶剂为丙酮或者酒精。
5.根据权利要求1所述的一种高调谐压控透明氧化镍薄膜电容器的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)(a)的金属Ni靶材与步骤(3)(b)的ITO靶材的纯度大于99.99%。
6.根据权利要求1所述的一种高调谐压控透明氧化镍薄膜电容器的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)(b)与步骤(3)(b)的氩气和氧气的纯度为99.99%。
7.根据权利要求1所述的一种高调谐压控透明氧化镍薄膜电容器的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)(c)的后退火温度为500-700℃,退火时间为10min。
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