[发明专利]一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法

权利要求书

1.一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法，其特征在于，该方法包括：

通过调整光源中钨灯氙灯的亮度的比例，再利用成像光谱仪来获得K组组合光源及其对应的测试信号DN_c(i,j,k)，并与暗噪声DN₀(i,j)相减，获得每一组组合光源的响应信号值DN(i,j,k)，再利用标准光谱辐射度计获得每一组组合光源的光谱辐亮度值W(λ,k)；其中，i表示像元所在行序数，j表示像元所在列序数，λ表示波长，k＝1,2,3,...,K；

对于每一像元(i,j)，查找K组组合光源的响应信号值中最高的一组DN(i,j,m)及其对应的光谱辐亮度值W(λ,m)；根据所述光谱辐亮度值W(λ,m)，利用线性插值法计算像元(i,j)的光谱响应中心波长λ(i,j)对应的辐亮度值W(λ(i,j),m)，来作为像元(i,j)接收的标准辐射量值；

将所述像元(i,j)接收的标准辐射量值W(λ(i,j),m)与响应信号值DN(i,j,m)相除获得像元(i,j)的绝对辐射定标系数c(i,j)。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述暗噪声DN₀(i,j)包括：

在暗室环境下，测试像元数为I×J的成像光谱仪的暗噪声DN₀(i,j)，其中，i＝1,2,3,...,I，j＝1,2,3,...,J。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获得每一组组合光源的响应信号值DN(i,j,k)表示为：

DN(i,j,k)＝DN_c(i,j,k)－DN₀(i,j)。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述查找像元(i,j)的K组组合光源的响应信号值中最高的一组DN(i,j,m)表示为：

DN(i,j,m)＝max{DN(i,j,k),k＝1,2,3,...,K}。

5.根据权利要求1或3或4所述的方法，其特征在于，所述将所述像元(i,j)接收的标准辐射量值W(λ(i,j),m)与响应信号值DN(i,j,m)相除获得像元(i,j)的绝对辐射定标系数c(i,j)表示为：

c(i,j)=W(λ(i,j),m)DN(i,j,m)=W(λ(i,j),m)DNc(i,j,m)-DN0(i,j).]]>

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述成像光谱仪与光谱辐射度计置于一维电动平移台上，且利用一计算机进行成像光谱仪与光谱辐射度计数据采集与存储，及一维电动平移台的移动控制。