[发明专利]一种电容的容值检测方法及装置在审
申请号: | 201410325214.6 | 申请日: | 2014-07-09 |
公开(公告)号: | CN104111382A | 公开(公告)日: | 2014-10-22 |
发明(设计)人: | 章根林;余霄;张睿夫 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 冯艳莲 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电容 检测 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及检测技术领域,尤其涉及一种电容的容值检测方法及装置。
背景技术
目前很多受电设备中都会设置储能电容作为备电模块,例如,固态硬盘(Solid State Disk,SSD)中。而随着使用时间的增加,电容的容值会逐渐减小,电容能够存储的电量逐渐较小,可能会导致电容无法满足受电设备备用供电的需求,因此,需要对电容的容值进行周期性检测。
现有的一种电容的容值检测方法为精确容值检测法,在精确容值检测法中,对电容进行深度放电,根据深度放电前后的电容电压、深度放电时长以及和电容构成放电回路的放电电阻阻值,能够精确确定出电容的容值。然而,采用精确容值检测法,由于需要电容深度放电,电容存储的电量会降到受电设备正常工作所需的电量以下,会导致受电设备的备用供电可靠性降低,存在一定的风险。
现有的另一种电容的容值检测方法为快速容值检测法,在快速容值检测法中,对电容进行浅度放电,根据浅度放电前后的电容电压、浅度放电时长以及和电容构成放电回路的放电电阻阻值,确定电容的容值。虽然采用快速容值检测法,电容存储的电量不会降到受电设备正常工作所需的电量以下,但是,采用快速容值检测法不能保证容值检测的准确度。
发明内容
本发明实施例提供一种电容的容值检测方法及装置,能够兼顾受电设备的备用供电可靠性和容值检测准确度。
第一方面,提供一种电容的容值检测方法,用于在受电设备工作的过程中对所述受电设备的备电模块中电容的容值进行检测,包括:
在所述受电设备工作的过程中,采用快速容值检测法对所述电容的容值进行检测,得到指定检测值;
根据所述指定检测值和检测补偿值确定所述电容的容值;其中,所述检测补偿值是预先根据第一检测值和第二检测值确定的,所述第一检测值为采用精确容值检测法对所述电容的容值进行检测得到的检测值,所述第二检测值为采用快速容值检测法对所述电容的容值进行检测得到的检测值。
结合第一方面,在第一种可能的实现方式中,在所述采用快速容值检测法对所述电容的容值进行检测之前,还包括:
根据预设的更新条件判断是否需要对所述检测补偿值进行更新;
在确定需要对所述检测补偿值进行更新时,采用精确容值检测法对所述电容的容值进行检测得到所述第一检测值,采用快速容值检测法对所述电容的容值进行检测得到所述第二检测值;根据所述第一检测值和所述第二检测值获得所述检测补偿值。
结合第一方面的第一种可能的实现方式,在第二种可能的实现方式中,所述根据预设的更新条件判断是否需要对所述检测补偿值进行更新,包括:
判断当前时刻是否满足预设的更新时刻;
在确定当前时刻满足预设的更新时刻时,确定需要对所述检测补偿值进行更新。
结合第一方面的第一种可能的实现方式,在第三种可能的实现方式中,所述根据预设的更新条件判断是否需要对所述检测补偿值进行更新,包括:
判断上一次确定的所述电容的容值是否满足预设的更新条件;
在确定上一次确定的所述电容的容值满足预设的更新条件时,确定需要对所述检测补偿值进行更新。
结合第一方面的第一种可能的实现方式,第一方面的第二种可能的实现方式,或者第一方面的第三种可能的实现方式,在第四种可能的实现方式中,所述根据所述第一检测值和所述第二检测值获得所述检测补偿值,包括:
根据所述第一检测值与所述第二检测值的差值获得所述检测补偿值。
第二方面,提供一种电容的容值检测装置,用于在受电设备工作的过程中对所述受电设备的备电模块中电容的容值进行检测,包括:
检测单元,用于在所述受电设备工作的过程中,采用快速容值检测法对所述电容的容值进行检测,得到指定检测值;
确定单元,用于根据所述指定检测值和检测补偿值确定所述电容的容值;其中,所述检测补偿值是预先根据第一检测值和第二检测值确定的,所述第一检测值为采用精确容值检测法对所述电容的容值进行检测得到的检测值,所述第二检测值为采用快速容值检测法对所述电容的容值进行检测得到的检测值。
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