[发明专利]用于测试分选机的匹配板的推动件组件有效

专利信息
申请号: 201410325653.7 申请日: 2014-07-09
公开(公告)号: CN104338682B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 柳晛准;黄正佑 申请(专利权)人: 泰克元有限公司
主分类号: B07C5/00 分类号: B07C5/00
代理公司: 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司11204 代理人: 余朦,王艳春
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 测试 分选 匹配 推动 组件
【权利要求书】:

1.一种用于测试分选机的匹配板的推动件组件,所述推动件组件用于使电子部件紧密接触测试分选机的测试仪插座,并包括:

基底部件,被设置到所述匹配板;

推动部件,配置成朝向所述测试仪插座推动所述电子部件,其中所述推动部件被设置在所述基底部件上,以便能够在相对于所述匹配板的竖直方向上移动;

弹性部件,配置成向所述推动部件提供弹性力,其中所述弹性部件被设置在所述基底部件与所述推动部件之间;以及

引导部件,配置成引导所述推动部件的竖直运动。

2.如权利要求1所述的用于测试分选机的匹配板的推动件组件,其中,所述引导部件被插入形成在所述推动部件中的通孔中,并且所述弹性部件设置为缠绕所述引导部件的形式。

3.如权利要求1所述的用于测试分选机的匹配板的推动件组件,其中,所述引导部件被设置为多个,并且多个所述引导部件对称地设置在所述推动部件的左侧位置和右侧位置处。

4.如权利要求2所述的用于测试分选机的匹配板的推动件组件,其中,所述通孔被形成在所述推动部件的中央部分中,并且用于控制所述电子部件的温度的热介质经过所述通孔被提供给所述电子部件。

5.如权利要求1所述的用于测试分选机的匹配板的推动件组件,其中,所述引导部件包括热介质通路,其中,用于控制所述电子部件的温度的热介质经过所述热介质通路流动。

6.如权利要求1所述的用于测试分选机的匹配板的推动件组件,其中,所述引导部件包括配置为防止所述推动部件偏向所述电子部件的第一凸出件,所述推动部件包括配置为通过所述第一凸出件妨碍所述推动部件的运动的第二凸出件。

7.如权利要求2所述的用于测试分选机的匹配板的推动件组件,其中,所述引导部件从所述电子部件的侧部插入到所述通孔中。

8.如权利要求1所述的用于测试分选机的匹配板的推动件组件,还包括多个弹簧,所述多个弹簧插置在所述基底部件与所述匹配板之间,并且与所述基底部件的每个角落匹配。

9.如权利要求1所述的用于测试分选机的匹配板的推动件组件,其中,所述推动部件被插入形成在所述引导部件中的第一通孔中,并且所述弹性部件设置为缠绕所述推动部件的形式。

10.如权利要求9所述的用于测试分选机的匹配板的推动件组件,其中,所述推动部件被插入形成在所述基底部件中的第二通孔中,以便能够通过所述竖直运动穿过所述基底部件。

11.如权利要求1所述的用于测试分选机的匹配板的推动件组件,还包括:

接合部件,配置成连接所述基底部件和所述引导部件;以及

弹簧,配制成连接所述引导部件和所述匹配板,

其中,所述基底部件被设置在形成于所述匹配板中的第三通孔内,并且当所述推动部件推动所述电子部件时,所述基底部件从所述第三通孔推出并且比所述匹配板更加远离所述电子部件。

12.如权利要求11所述的用于测试分选机的匹配板的推动件组件,其中,所述第三通孔的直径随着离所述电子部件的距离增加而逐渐变大,以及,所述基底部件的、朝向所述匹配板的一个端部的宽度随着离所述电子部件的距离增加而逐渐变大,从而与所述第三通孔的内侧表面接触。

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