[发明专利]半导体元件测试分类设备

权利要求书

1.一种半导体元件测试分类设备，其包含：

一半导体元件分类装置，具有一立于地面的第一本体以及设于该第一本体上的一吸取模块、一入料模块、一检视模块及一传输模块，而该传输模块具有彼此互相连接的一载移轨道、一载移单元及一取放单元；以及

一半导体元件测试装置，具有一立于地面的第二本体以及设于该第二本体上的一测试模块，该测试装置上具有一承载座，该测试模块对准该传输模块；

其中，该半导体元件分类装置与该半导体元件测试装置为分离式且该半导体元件分类装置与该半导体元件测试装置之间设有一对辅助定位模块，并该半导体元件测试装置限制在间隔于该半导体元件分类装置一距离的固定位置，其中该对辅助定位模块包含一第一侧边与一第二侧边，该第一侧边平行于该半导体元件分类装置的该第一本体靠近该传输模块的该侧，该第二侧边垂直于该第一侧边，由该距离避免该半导体元件分类装置及该半导体元件测试装置相互接触，使得该半导体元件分类装置产生低频震动被阻绝，无法传递至该半导体元件测试装置的该承载座内。

2.根据权利要求1所述的半导体元件测试分类设备，其中该第二本体通过该对辅助定位模块对准于该第一本体。

3.根据权利要求1所述的半导体元件测试分类设备，其中该载移单元设有一浮动定位单元，该测试模块通过该浮动定位单元与该载移单元相互对准。

4.根据权利要求2所述的半导体元件测试分类设备，其中该对辅助定位模块具有一呈L字型的剖面。

5.根据权利要求1所述的半导体元件测试分类设备，其中该第二本体与该第一本体之间所相隔的该距离等于该对辅助定位模块的该第二侧边的宽度。

6.根据权利要求1所述的半导体元件测试分类设备，其中该检视模块为一电荷耦合元件。

7.根据权利要求1所述的半导体元件测试分类设备，其中该半导体元件分类装置还具有一料盘，其对应设置于该取放单元下方，供至少一半导体元件置放。

8.根据权利要求1所述的半导体元件测试分类设备，其中该半导体元件分类装置还具有一卷带式包装机构，其对应设置于该吸取模块的所述吸取头下方。

9.根据权利要求1所述的半导体元件测试分类设备，其中该半导体元件测试装置还具有一罩体，其罩盖住该测试模块。

10.根据权利要求1所述的半导体元件测试分类设备，其中该第一本体与该第二本体的底部分别装设有多个具有吸收震动的胶垫。