[发明专利]保偏光波导环形谐振腔基本单元结构参数偏振特性测试方法及装置有效
| 申请号： | 201410328201.4 | 申请日： | 2014-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN104180970A | 公开（公告）日： | 2014-12-03 |
| 发明（设计）人： | 马慧莲;李学辉;金仲和 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 偏光 波导 环形 谐振腔 基本 单元 结构 参数 偏振 特性 测试 方法 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种保偏光波导环形谐振腔基本单元结构参数偏振特性的测试方法，其特征在于：
通过光波导环形谐振腔谐振曲线和二次谐波解调曲线测试装置测得两曲线，由光波导环形谐振腔谐振曲线得到出腔后光波的偏振消光比和腔内光波主次偏振态的谐振幅度比，由光波导环形谐振腔二次谐波解调曲线得到入腔前光波的偏振消光比，再结合谐振曲线得到的谐振腔耦合系数和谐振腔总损耗计算得到保偏光波导环形谐振腔基本单元结构参数偏振特性；
根据谐振曲线得到的三个参数：谐振深度ρ、谐振腔自由谱线宽度和谐振腔谱线半高全宽，根据这三个参数得到谐振腔总损耗和耦合器耦合系数：
其中,k为耦合器耦合系数，无单位，αC为耦合器附加损耗，单位为dB，αl为谐振腔单位波导传输损耗，单位为dB/cm，参数a和b表示如下：
其中，FSR为谐振腔自由谱线宽度，FWHM为谐振腔谱线半高全宽，F为谐振腔清晰度。
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