[发明专利]一种双线阵CCD扫描成像测量光束质量的装置及方法有效
申请号: | 201410329339.6 | 申请日: | 2014-07-10 |
公开(公告)号: | CN104062098A | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
发明(设计)人: | 谭佐军;谢静;高贻钧;后德家;王贤峰 | 申请(专利权)人: | 华中农业大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 武汉宇晨专利事务所 42001 | 代理人: | 李鹏;王敏锋 |
地址: | 430000 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双线 ccd 扫描 成像 测量 光束 质量 装置 方法 | ||
1.一种双线阵CCD扫描成像测量光束质量的装置,包括计算机(10),其特征在于,还包括电控平移台(3)、设置在电控平移台(3)上的手动角位台(2)和设置在手动角位台(2)上的安装有被测激光器(14)的电控旋转台(1),还包括以被测激光器(14)为中心顺时针依次设置的第二线阵CCD(5)、面阵CCD(6)和第一线阵CCD(4),第一线阵CCD(4)与被测激光器(14)的距离为Z2大于第二线阵CCD(5)与被测激光器(14)的距离为Z1,还包括用于控制电控旋转台(1)进行旋转和用于控制电控平移台(3)平移的运动控制器(9),第一线阵CCD(4)和第二线阵CCD(5)均通过线阵CCD图像采集卡(12)与计算机(10)连接,面阵CCD(6)通过面阵CCD图像采集卡(11)与计算机(10)连接,计算机(10)与运动控制器(9)连接。
2.一种双线阵CCD扫描成像测量光束质量的方法,其特征在于,
步骤1:对第一线阵CCD(4)和第二线阵CCD(5)进行非线性校正;
步骤2:安装非线性校正后的第一线阵CCD(4)和第二线阵CCD(5),将被测激光器(14)安装到电控旋转台(1)上,调整手动角位台(2)保证被测激光器(14)水平,通过面阵CCD(6)监测激光器光束在接收屏上的像点,控制电控平移台(3)前后移动进行被测激光器光束像点的调节,直到像点清晰;
步骤3:控制电控旋转台(1)使得被测激光器(14)朝向第二线阵CCD(5),并以预定的间隔正负旋转,通过第二线阵CCD(5)获取激光光束相对光强分布,计算相对光强最大值,该相对光强最大位置为零位并记录,将相对光强最大值的预定百分比作为阈值,然后使电控旋转台(1)归零,使被测激光器(14)正对第二线阵CCD(5);
步骤4:控制电控旋转台(1)以预定的间隔顺时针转,找到光强值小于步骤3获得的阈值对应的角度,即为边界1,再控制电控旋转台(1)反方向转,找到另一半光强值小于阈值对应的角度,即为边界2;
步骤5:测量视野角度,控制电控旋转台(1)进行从边界2旋转扫描至边界1,扫描完成后,即得到相对光强随在每个扫描角度上的分布,光束强度的峰值,选取扫描得到的光强值的峰值强度的1/e2点对应的两个角度,两个角度的差值θ2-θ1为视野角度。
3.根据权利要求2所述的一种双线阵CCD扫描成像测量光束质量的方法,其特征在于:
还包括步骤6:测量发散角,控制电控旋转台(1)进行从边界2旋转扫描至边界1,用第一线阵CCD(4)和第二线阵CCD(5)采集每个视野角度对应的纵向光强分布曲线,得到每个视野角度对应位置的束宽d2和d1,发散角由下式获得:
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