[发明专利]测试方法及使用该测试方法的自动测试设备有效

专利信息
申请号: 201410331668.4 申请日: 2014-07-11
公开(公告)号: CN105277814B 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 张友青 申请(专利权)人: 致茂电子(苏州)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海宏威知识产权代理有限公司31250 代理人: 袁辉
地址: 215011 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测试 方法 使用 自动 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种自动测试的设备及方法,特别是有关于一种能同时测试多个待测接脚以及对单一个待测接脚进行多次测试的测试设备及方法。

背景技术

每一个电子设备在出厂前,都需要通过自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)进行功能测试,以确定电子设备的使用功能及品质。

一个电子设备通常具有多个接脚需要进行测试。现行一种自动测试设备以接脚参数量测单元(Per Pin Parametric Measurement Unit,PPMU)对应耦接于待测电子装置的接脚以进行接脚测试,再由一个类比数位转换器(Analog-to-Digital converter,ADC)耦接至PPMU,将PPMU的测试结果的类比信号转换为数位值,再由电脑进行读值。

然而,此种自动测试设备仅具有一个ADC对多个PPMU的测试结果进行信号的转换,就需要花费很长的时间来进行接脚测试,进而增加电子设备在生产过程的成本。

此外,在测试待测电子设备的接脚时,若只对待测电子设备的接脚进行一次测试,很可能造成测试上的误差。但若要对待一接脚进行多次的测试,现行软体的方式就需要执行多次的软体指令传送才能完成。以软体指令来控制测试,将会耗费许多传输通讯的时间,不仅增加了测试的总时间,在软体指令通讯的期间也可能造成测试结果的变化,而影响了测试结果的准确率。

有鉴于现行自动测试设备在测试时所花费的长时间以及软体指令耗时又低准确率的问题,实有必要提出一种测试方法及自动测试设备,以缩减测试所花费的时间并提升测试准确率。

发明内容

本发明一种测试方法,通过群组化接脚测试单元,以达到在同一时间中同时对多个待测接脚进行接脚测试,并利用硬体自动执行的指令,达到多次测试同一个待测接脚的效果,进而提升测试的准确率。

为达上述目的,本发明一种测试方法运用于一自动测试设备,用以测试待测物的多个待测接脚。自动测试设备具有多个测试群组,每一个测试群组具有多个接脚测试单元,且分别对应于一个类比数位转换器。每一个测试群组中的接脚测试单元耦接至对应的类比数位转换器,所述测试方法包含以下步骤。依据选择信号,决定每一个测试群组的读值排序表,读值排序表以测试顺序指定须进行接脚测试的接脚测试单元。依据测试顺序,载入每一个测试群组中须进行接脚测试的一个接脚测试单元的测试参数,每一个测试参数指示测试模式及测试次数。依据测试模式,已载入测试参数的接脚测试单元重复进行接脚测试达测试次数,据以取得多个测试信号。将已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元所取得的每一个测试信号转换成测试值。取得已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元的测试值。计算已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元的测试值平均。

于本发明一实施例中,于载入每一个测试群组中须进行接脚测试的一个接脚测试单元的测试参数步骤中,包含切断每一个测试群组中全部的接脚测试单元。导通须进行接脚测试的其中一个测试接单元。

于本发明一实施例中,更包含依据测试模式,载入已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元的增益参数及补偿参数。依据增益参数及补偿参数,校正已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元的测试值。

于本发明一实施例中,于计算已重复进行接脚测试的每一个接脚测试单元的测试值平均步骤中,包含将每一个接脚测试单元经校正后的测试值累加,以及计算每一个接脚测试单元累加后的该些测试值的平均值。

本发明一种自动测试设备,包含多个测试群组、第一控制单元、多个类比数位转换器、第二控制单元及计算单元。每一个测试群组具有多个接脚测试单元,每一个接脚测试单元依据测试模式,重复进行接脚测试达测试次数,据以取得多个测试信号。第一控制单元依据选择信号,决定每一个测试群组的读值排序表。读值排序表以测试顺序指定须进行接脚测试的接脚测试单元。第一控制单元再依据测试顺序,载入每一个测试群组中须进行接脚测试的接脚测试单元的测试参数。测试参数指示测试模式及测试次数。多个类比数位转换器耦接至第一控制单元,每一个类比数位转换器对应于一个测试群组,且测试群组中的接脚测试单元皆耦接至对应的类比数位转换器,用以将已重复进行接脚测试的接脚测试单元所取得的测试信号转换成测试值。第二控制单元耦接于类比数位转换器,用以取得已重复进行接脚测试的接脚测试单元所得到的测试值。而计算单元耦接于第二控制单元,用以计算已重复进行接脚测试的接脚测试单元所取得的的测试值平均。

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