[发明专利]开关电源装置有效
申请号: | 201410337844.5 | 申请日: | 2014-07-16 |
公开(公告)号: | CN104300791B | 公开(公告)日: | 2017-05-03 |
发明(设计)人: | 鹈野良之 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | H02M3/28 | 分类号: | H02M3/28;G01R19/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 李逸雪 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 开关电源 装置 | ||
技术领域
本发明涉及具备有升压转换器的开关电源装置。
背景技术
在为将商用电源作为输入的电力容量大的电源装置的情况下,为了消除高次谐波电流限制,搭载PFC(功率因数改善)用的升压转换器在事实上成为必须。再有,在为将太阳光等可再生能源作为输入的电源装置的情况下,由于输入电压的变动较大,因此为了补偿该变动,也有时构成在前级具备有升压转换器的电源装置。如此在构成具备有升压转换器的电源装置的情况下,升压转换器为了获得恒压的输出,检测输出电压并与基准电压进行比较,且控制为其误差变为零。其中,因布线中的电阻或基准电压的偏差等要因,输出电压会产生误差(偏离)。若进行相对于该误差而具备极限的部件选定或电路设计,则成为装置大型化、成本上升、效率下降等课题的要因,因此在获得更高精度的输出电压的情况下需要进行修正。因而,在专利文献1中公开了在恒压电源装置中可以抑制基准电压源的偏差或分压电阻的偏差所引起的输出电压的偏离的发明。
在先技术文献
专利文献
专利文献1:JP特开2009-240063号公报
然而,一般而言因为在电路中途并不具备用于从外部来测量电压的测量用端子,所以在为前级具备了升压转换器的电源装置的情况下,无法直接测量升压转换器的输出电压(中间总线电压)。为此,不能进行以下处理:对利用检测电路检测出的中间总线电压和直接测量出的中间总线电压进行比较,并对包含误差的中间总线电压的检测结果进行修正。其结果,存在无法将中间总线电压控制成给定值、且无法高精度地从升压转换器输出恒压的问题。该问题在专利文献1中无法解决。
发明内容
因此,本发明的目的在于提供一种可对包含误差的中间总线电压的检测结果进行修正的开关电源装置。
本发明涉及的开关电源装置的特征在于,具备:前级转换器,通过第1开关元件的接通断开将被输入至电压输入部的输入电压转换为给定电压;后级转换器,通过第2开关元件的接通断开将所述前级转换器的输出电压转换为给定电压;输入电压检测电路,对所述前级转换器的输入电压进行检测;中间总线电压检测电路,对作为所述前级转换器的输出电压的中间总线电压进行检测;和控制部,
该控制部具有:采样单元,将由所述输入电压检测电路及中间总线电压检测电路检测的检测信号与基准电压进行比较来进行采样;电压计算部,利用由所述输入电压检测电路及中间总线电压检测电路检测的检测信号并根据给定的计算式来计算所述输入电压及所述中间总线电压的测量值;存储单元,存储所述计算式的系数;以及通信单元,向外部装置发送所述电压测量值并从外部装置接收所述系数,
所述输入电压检测电路及所述中间总线电压检测电路是由同一规格的元件构成的相同电路,对由所述输入电压检测电路及中间总线电压检测电路检测的检测信号进行采样的采样单元的基准电压是相同的,计算所述输入电压测量值及所述中间总线电压测量值的所述给定的计算式以及所述计算式所利用的系数是相同的。
在该构成中,当对前级转换器的输入电压及中间总线电压(输出电压)进行了检测的情况下,虽然在检测用电路的各元件的影响所引起的检测结果中包含误差,但却没有误差的偏差(小的误差偏差)。因而,可以针对输入电压及中间总线电压各自进行测量值的计算,以便同样地消除误差的影响。为了测量前级转换器的输入电压,只要直接测量开关电源装置的输入端子的电压即可。而且,按照该直接测量出的输入电压测量值和根据由输入电压检测电路检测出的输入电压而得到的测量值一致的方式,计算根据输入电压检测电路的检测信号计算测量值的计算式所利用的系数并进行存储,在根据中间总线电压检测电路的检测信号计算中间总线电压测量值的计算式中利用同样的系数,由此也可计算没有误差(小的误差)的中间总线电压的测量值。因此,无需设置直接测量中间总线电压的测量用端子,便能修正中间总线电压的测量值,可以构成小型且高效率的开关电源装置。
优选所述输入电压检测电路及所述中间总线电压检测电路是电阻分压电路。
在该构成中,能以简易的构成检测输入电压及中间总线电压。
优选所述电阻分压电路的各电阻元件的制造批次是相同的。
在该构成中,能进一步缩小检测电路的各元件的影响带来的检测结果的偏差。
优选所述电阻分压电路的各电阻元件是一个薄膜网络电阻的元件。
在该构成中,能进一步缩小检测电路的各元件所引起的误差。
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