[发明专利]基于多重欠采样实现光学遥感器像能量超频采样的方法有效
申请号: | 201410339156.2 | 申请日: | 2014-07-16 |
公开(公告)号: | CN104156563B | 公开(公告)日: | 2017-04-19 |
发明(设计)人: | 杜建祥;宗肖颖;冯晓宇 | 申请(专利权)人: | 北京空间机电研究所 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心11009 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 100076 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 多重 采样 实现 光学 遥感 能量 超频 方法 | ||
1.基于多重欠采样实现光学遥感器像能量超频采样的方法,其特征在于包括下列步骤:
(1)确定光学遥感器焦面像元尺寸a以及在该像元尺寸下的采样频率f1和所需采样频率f2,f2>f1;
(2)计算成像信号的移动步数k和移动步长dx:
k=f2/f1,且向上取整
dx=a/k
(3)利用采样频率f1对光学遥感器像能量进行采样得到采样数据矩阵SD;具体实现方法如下:
(3a)利用采样频率f1对像能量进行采样,得到采样数据SD1,记为:
SD1=[P11P12…P1n]
其中
P11=x1+x2+…+xk
P12=xk+1+xk+2+…+x2k
.
.
.
P1n=xkn-k+1+xkn-k+2+…+xkn
P11,P12,…,P1n为像能量在采样频率f1下的采样值,n为采样像元数,取正整数,X=[x1,x2…xkn…]为像能量在采样频率f2下的采样值;
(3b)将成像信号相对于光学遥感器的焦面移动dx,再利用采样频率f1对像能量进行采样得到采样数据SD2,记为:
SD2=[P21P22…P2n]
其中
P21=x2+x3+…+xk+1
P22=xk+2+xk+3+…+x2k+1
.
.
.
P2n=xkn-k+2+xkn-k+3+…+xkn+1
P21,P22,…,P2n为像能量在采样频率f1下的采样值;
(3c)以此类推,将成像信号相对于光学遥感器的焦面第k-1次移动dx,再利用采样频率f1对像能量进行采样得到采样数据SDk,记为:
SDk=[Pk1Pk2…Pkn]
其中
Pk1=xk+xk+1+…+x2k-1
Pk2=x2k+x2k+1+…+x3k-1
.
.
.
Pkn=xkn+xkn+1+…+xkn+k-1
Pk1,Pk2,…,Pkn为像能量在采样频率f1下的采样值;
(3d)将步骤(3a)-(3c)得到采样数据SD1,SD2…SDk组成采样数据矩阵SD:
其中,r为小于k的正整数,c为小于n的正整数;
(4)将步骤(3)中得到的采样数据矩阵SD进行数据处理,计算得到采样频率f2下的采样值X=[x1,x2…xkn…],具体计算方法如下:
令得到
将代入下式得到在采样频率f2下的采样值X=[x1,x2…xkn…]:
Xs为采样频率f2下序号从k到kn的采样值x;
其中Pij为采样矩阵SD中的值,k<s≤kn,s为正整数,的余数,
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