[发明专利]液晶面板及其制备方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶技术领域，尤其涉及一种液晶面板及其制备方法。

背景技术

位于显示面板上的薄膜晶体管(TFT)位于陈列基板上，在显示面板工作时起电路开关作用，它们按照顺序把图像信号传输至对应的像素。因此，一般来说，液晶显示面板的显示质量与寿命，很大部分可以通过对其TFT电性的测量来进行评估。

然而，当前TFT的电性特征，只能在液晶显示面板的阵列基板完成制作后测量，而TFT实际是阵列基板与彩膜基板对组形成的液晶盒内进行工作。仅在阵列基板测量的TFT电性不能完全代表TFT在液晶盒内工作的电性。

因此，如何设计一种易于测试其液晶盒内电性的液晶面板及其制备方法，成为液晶显示设备的一大研发方向。

发明内容

本发明的目的在于提供一种液晶面板及其制备方法，旨在可以实现测量液晶盒内测量TFT电性，更接近其真实的状况。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案：

一种液晶面板，由阵列基板与彩膜基板进行成盒形成，所述阵列基板上包括多个液晶盒、测试TFT单元、以及源极测试垫、漏极测试垫、栅极测试垫，其中，所述测试TFT单元包括：

设置有源极、漏极、栅极的TFT；

围绕TFT的框胶；

一端连接所述TFT的栅极、另一端穿过所述框胶连接所述栅极测试垫的栅极测试引线；

一端连接所述TFT的源极、另一端穿过所述框胶连接所述源极测试垫的源极测试引线；

一端连接所述TFT的漏极、另一端穿过所述框胶连接所述漏极测试垫的漏极测试引线。

优选地，所述测试TFT单元设置于所述液晶面板的靠近所述源极测试垫、漏极测试垫、栅极测试垫的一侧。

优选地，所述测试TFT单元还包括设置在所述阵列基板与所述彩膜基板之间液晶分子，用于模拟液晶盒内的环境。

优选地，所述测试TFT单元与所述液晶盒一同生长形成。

优选地，所述源极测试垫、漏极测试垫、栅极测试垫皆为金属薄片。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案：

一种液晶面板的制备方法，包括如下步骤：

制备阵列基板，所述阵列基板上包括：设置有源极、漏极、栅极的TFT、以及至少一组由源极测试垫、漏极测试垫、栅极测试垫构成的测试接口；其中，至少一个TFT用于形成测试TFT单元，所述测试TFT单元包括：一端连接所述TFT的栅极、另一端连接所述栅极测试垫的栅极测试引线；一端连接所述TFT的源极、另一端连接所述源极测试垫的源极测试引线；一端连接所述TFT的漏极、另一端连接所述漏极测试垫的漏极测试引线；

制备彩膜基板；

将所述阵列基板与所述彩膜基板对位，并通过框胶进行贴合，以形成由所述阵列基板、所述彩膜基板与所述框胶构成的容纳空间，所述容纳空间的所述胶框上设置有一液晶注入孔；

通过所述液晶注入孔向所述容纳空间内注入液晶，并将所述液晶注入孔密封，以形成多个液晶盒及至少一个所述测试TFT单元；

对所述测试TFT单元的外侧边缘的所述彩膜基板进行切割，以露出所述源极测试垫、所述漏极测试垫、所述栅极测试垫；以及

在所述阵列基板和所述彩膜基板的表面进行偏光片的贴附，以形成液晶面板。

优选地，形成所述测试TFT单元的TFT，位于所述液晶面板的靠近所述测试接口的一侧。

优选地，所述源极测试垫、所述漏极测试垫、所述栅极测试垫皆为金属薄片。

优选地，所述源极测试垫、所述漏极测试垫、所述栅极测试垫的制备步骤分别为：将所述源极引线、所述漏极引线、以及所述栅极引线的一端各连接一金属薄片。

优选地，将所述源极测试垫、所述漏极测试垫以及所述栅极测试垫连接于测试设备，并根据测试结果对所述液晶面板的质量进行评估。

相对于现有技术，本发明的液晶面板及其制备方法，通过对测试TFT单元的设计，实现对TFT在液晶盒中的电性的测量。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面对实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获取其他的附图。

图1是本发明中实施例一中液晶面板的阵列基板示意图。

图2是本发明中实施例一中液晶面板的测试TFT单元的截面示意图。

图3是本发明中实施例二中液晶面板的制备方法示意图。