[发明专利]扫描成像光谱仪系统有效
申请号: | 201410342293.1 | 申请日: | 2014-07-17 |
公开(公告)号: | CN104155002A | 公开(公告)日: | 2014-11-19 |
发明(设计)人: | 张红明;张立福;吴太夏;岑奕;杨杭;孙雪剑 | 申请(专利权)人: | 中国科学院遥感与数字地球研究所 |
主分类号: | G01J3/44 | 分类号: | G01J3/44 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
地址: | 100101 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扫描 成像 光谱仪 系统 | ||
1.一种扫描成像光谱仪系统,其特征在于,包括成像镜头单元、扫描单元、预览成像单元、光谱分光单元、探测单元和计算机单元;
所述成像镜头单元,用于收集地物样品的漫反射光信号;
所述扫描单元包括摆镜,通过所述摆镜实现所述系统在预览模式与光谱成像模式之间的切换,当所述系统处于预览模式时,所述摆镜以静止的状态将所述漫反射光信号反射至所述预览成像单元,当所述系统处于光谱成像模式时,所述摆镜以摆扫的状态将所述漫反射光信号反射至光谱分光单元;
所述预览成像单元,用于将接收的漫反射光信号进行聚焦,并将所述聚焦后的漫反射光信号转向至所述探测单元的光敏面上;
所述光谱分光单元,用于对接收的漫反射光信号进行分光,并将所述分光得到的光信号反射至所述探测单元的光敏面上;
所述计算机单元,与所述探测单元相连,用于当所述系统处于预览模式时根据所述探测单元探测的信息得到预览信息,当所述系统处于光谱成像模式时根据所述探测单元探测的信息得到光谱信息。
2.根据权利要求1所述的扫描成像光谱仪系统,其特征在于,所述扫描单元位于所述成像镜头单元的后方,所述系统还包括外壳,所述扫描单元、预览成像单元、光谱分光单元以及探测单元均位于所述外壳内,形成封闭结构。
3.根据权利要求1所述的扫描成像光谱仪系统,其特征在于,所述扫描单元还包括电机和控制器,所述控制器通过所述电机对所述摆镜的状态进行控制,当所述系统处于预览模式时,所述控制器控制所述摆镜处于静止的状态,将所述漫反射光信号反射至所述预览成像单元,当所述系统处于光谱成像模式时,所述控制器控制所述摆镜处于摆扫的状态,将所述漫反射光信号反射至光谱分光单元。
4.根据权利要求3所述的扫描成像光谱仪系统,其特征在于,所述电机为步进电机或者伺服电机。
5.根据权利要求1所述的扫描成像光谱仪系统,其特征在于,所述预览成像单元包括第一反射镜、透镜、第二反射镜;
所述第一反射镜,用于将所述预览成像单元接收的漫反射光信号反射至所述透镜;
所述透镜,用于对漫反射光信号进行聚焦;
所述第二反射镜,用于将所述聚焦后的漫反射光信号反射至所述探测单元的光敏面上。
6.根据权利要求1所述的扫描成像光谱仪系统,其特征在于,所述光谱分光单元包括中继透镜、狭缝、第一球面反射镜、分光结构、第二球面反射镜;
所述中继透镜,用于将所述光谱分光单元接收的漫反射光信号聚焦在所述狭缝处;
所述狭缝,用于限制漫反射光信号的光通量;
所述第一球面反射镜,用于将透过所述狭缝的漫反射光信号聚焦到所述分光结构;
所述分光结构,用于对透过所述狭缝的漫反射光信号进行分光;
所述第二球面反射镜,用于将分光后得到的光信号聚焦至所述探测单元的光敏面上。
7.根据权利要求1所述的扫描成像光谱仪系统,其特征在于,所述分光结构为凸面光栅。
8.根据权利要求1至7任一所述的扫描成像光谱仪系统,其特征在于,所述探测单元为面阵探测器。
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