[发明专利]一种确定结晶器非正弦振动工艺参数的方法

权利要求书

1.一种确定结晶器非正弦振动工艺参数的方法，包括整体函数表达的非正弦波的五个参数，分别为（1）C1：零拉速时的振频，Hz；（2）C2：振频/拉速系数；（3）C3：零拉速时的振幅，mm；（4）C4：振幅/拉速系数；（5）α：非正弦因数，其特征在于，所述方法包括以下四个步骤：

步骤一：位置、速度及加速度计算，公式如下：

；

；

；

其中：振动频率为：，其中为拉速；

      振动幅值为：；

步骤二：当结晶器运动所经历的时间为t_m时，结晶器向下运动的速度与拉坯速度相等，得出负滑动时间的表达式：

t_N=（T/2-t_m）×2；              

式中，t_N：负滑动时间，s；

      t_m：负滑动开始时间，s；

      T：结晶器振动周期，s；

步骤三：当时间为t_m时，结晶器振动速度与拉速相等，也就是负滑动开始的时间，即为：；

则t_N=（T/2-t_m）×2；

负滑动率的表达式为：

；

式中，：拉坯速度，m/min；

：结晶器振动平均速度，m/min；

步骤四：由负滑动率的表达式中可知需要计算出数值，结晶器的振动速度表达式为：

；

将A和的数值带入速度公式中，根据C++语言程序，求出结晶器振动速度的平均值，而后带入负滑动率公式中，即可求出负滑动率。

2.根据权利要求1所述的一种确定结晶器非正弦振动工艺参数的方法，其特征在于：在非正弦振动中，所述负滑动时间t_N保持在0.07~0.25s。

3.根据权利要求2所述的一种确定结晶器非正弦振动工艺参数的方法，其特征在于：所述负滑动率NS保持在-20%~108.8%。

4.根据权利要求3所述的一种确定结晶器非正弦振动工艺参数的方法，其特征在于：所述非正弦振动的偏斜率α为0~40%；当非正弦因子α=0时，为正弦振动。

5.根据权利要求1-4中任意一项所述的一种确定结晶器非正弦振动工艺参数的方法，其特征在于：最小振幅A不小于2.5mm。