[发明专利]单光子发射断层成像系统的几何刻度方法

权利要求书

1.一种单光子发射断层成像系统的几何刻度方法，其特征在于，所述单光子发射断层成像系统包括PET探测器和准直器，所述方法包括以下步骤：

对所述准直器进行测量以获得所述准直器上针孔或槽缝的几何参数；

将所述准直器和所述PET探测器组装成所述单光子发射断层成像系统；

控制所述准直器运动，以利用所述PET探测器测量所述准直器运动至多个目标位置时的多组本底符合事件；

根据所述多组本底符合事件得到所述准直器在所述单光子发射断层成像系统中的位置坐标。

2.根据权利要求1所述的单光子发射断层成像系统的几何刻度方法，其特征在于，控制所述准直器运动，以利用所述PET探测器测量所述准直器运动至多个目标位置时的多组本底符合事件，具体包括：

控制所述准直器移出所述PET探测器的环中，并通过所述PET探测器采集第一预设时间内的第一本底符合事件；

控制所述准直器移入所述PET探测器的环中，并通过所述PET探测器采集第二预设时间内的第二本底符合事件；

控制所述准直器移出至所述PET探测器的环中预设距离，并通过所述PET探测器采集第三预设时间内的第三本底符合事件。

3.根据权利要求1或2所述的单光子发射断层成像系统的几何刻度方法，其特征在于，利用PET探测器中镥176衰变产生的负电子和级联的伽马粒子测量所述多组本底符合事件。

4.根据权利要求1所述的单光子发射断层成像系统的几何刻度方法，其特征在于，所述根据所述多组本底符合事件得到所述准直器在所述单光子发射断层成像系统中的位置坐标，具体包括：

将所述多组本底符合事件转化为正弦图；

根据所述正弦图利用滤波反投影算法或迭代重建算法获得所述准直器的三维衰减图像；以及

从所述准直器的三维衰减图像中提取所述准直器在所述单光子发射断层成像系统中的位置坐标。

或直接将符合事件反投影，获得反投影图像；以及从所述准直器的反投影图像中提取所述准直器在所述单光子发射断层成像系统中的位置坐标。

5.根据权力要求4所述的单光子发射断层成像系统的几何刻度方法，其特征在于，还包括：在所述准直器上进行进一步处理，包括粘贴标记物或切槽切缝，以利用所述标记物或所述切槽切缝获得本底成像，以用于标定所述准直器的几何参数。

6.根据权利要求1所述的单光子发射断层成像系统的几何刻度方法，其特征在于，所述准直器上针孔或槽缝的几何参数包括：所述针孔或槽缝在所述准直器上的位置和张角。

7.根据权利要求1所述的单光子发射断层成像系统的几何刻度方法，其特征在于，通过如下方式对所述准直器进行测量以获得所述准直器上针孔或槽缝的几何参数：机械测量方法、光学测量方法、成像测量方法、电磁测量方法或气动测量方法。

8.根据权利要求1所述的单光子发射断层成像系统的几何刻度方法，其特征在于，所述准直器的形状为环状、平板状或多边形，所述准直器的针孔为圆锥、椭圆锥、圆台、椭圆台、多棱锥或多棱台。

9.根据权利要求8所述的单光子发射断层成像系统的几何刻度方法，其特征在于，所述PET探测器为与所述准直器适配的环状探测器、平板探测器或多边形探测器。