[发明专利]硅片扩散处理方法及太阳能电池片的制造方法有效
申请号: | 201410348506.1 | 申请日: | 2014-07-21 |
公开(公告)号: | CN104157728B | 公开(公告)日: | 2016-11-23 |
发明(设计)人: | 张朝坤 | 申请(专利权)人: | 深圳深爱半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 吴平 |
地址: | 518118 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硅片 扩散 处理 方法 太阳能电池 制造 | ||
1.一种硅片扩散处理方法,其特征在于,在对所述硅片进行扩散源沉积之前,对所述硅片进行氧化处理,所述氧化处理依次包括如下步骤:
保持温度在750℃,通入流量为6L/分钟的纯氮气对所述硅片处理5分钟;
在50分钟内,将温度从750℃匀速升温至1100℃,并通入流量为6L/分钟的纯氮气对所述硅片进行处理;
保持温度在1100℃,通入流量为6L/分钟的氧气与流量为150cc/分钟的含氯乙酰氯的氮气的混合气体对所述硅片处理15分钟,其中,所述含氯乙酰氯的氮气是以流量为150cc/分钟的氮气对液体氯乙酰氯进行鼓泡后得到的含有氯乙酰氯的氮气;
保持温度在1100℃,通入流量为5.2L/分钟的氧气、流量为8L/分钟的氢气以及流量为150cc/分钟的含氯乙酰氯的氮气的混合气体对所述硅片处理3.5~4.5小时,其中,所述含氯乙酰氯的氮气是以流量为150cc/分钟的氮气对液体氯乙酰氯进行鼓泡后得到的含有氯乙酰氯的氮气;
保持温度在1100℃,通入流量为6L/分钟的氧气与流量为150cc/分钟的含氯乙酰氯的氮气的混合气体对所述硅片处理20分钟,其中,所述含氯乙酰氯的氮气是以流量为150cc/分钟的氮气对液体氯乙酰氯进行鼓泡后得到的含有氯乙酰氯的氮气;
在100分钟内,将温度从1100℃匀速降温到750℃,并通入流量为6L/分钟的纯氮气对所述硅片进行处理。
2.如权利要求1所述的硅片扩散处理方法,其特征在于,还包括在进行所述氧化处理之前对所述硅片进行的预沉积处理,所述预沉积处理依次包括如下步骤:
保持温度在600℃,通入流量为8L/分钟的纯氮气对所述硅片处理5分钟;
保持温度在900℃,通入流量为8L/分钟的纯氮气对所述硅片处理50分钟;
保持温度在900℃,通入流量为8L/分钟的纯氮气以及流量为600cc/分钟的氧气的混合气体对所述硅片处理5分钟;
在50分钟内,将温度从900℃匀速升温至1180℃,并通入流量为8L/分钟的纯氮气以及流量为600cc/分钟的氧气的混合气体对所述硅片处理50分钟;
保持温度在1180℃,通入流量为8L/分钟的纯氮气以及流量为600cc/分钟的氧气的混合气体对所述硅片处理10分钟;
保持温度在1180℃,通入流量为8L/分钟的纯氮气以及流量为600cc/分钟的氧气的混合气体对所述硅片处理15秒;
保持温度在1180℃,通入流量为8L/分钟的纯氮气、流量为600cc/分钟的氧气以及流量为1.2L/分钟的含三氯氧磷的氮气的混合气体对所述硅片处理13小时,其中,所述流量为1.2L/分钟的含三氯氧磷的氮气是以流量为1.2L/分钟的氮气对液体三氯氧磷进行鼓泡后得到的含有三氯氧磷的氮气;
保持温度在1180℃,通入流量为8L/分钟的纯氮气以及流量为600cc/分钟的氧气的混合气体对所述硅片处理15秒;
保持温度在1180℃,通入流量为8L/分钟的纯氮气以及流量为600cc/分钟的氧气的混合气体对所述硅片处理30分钟;
保持温度在1180℃,通入流量为8L/分钟的纯氮气对所述硅片处理1秒;
保持温度在1180℃,通入流量为8L/分钟的纯氮气以及流量为3L/分钟的氧气的混合气体对所述硅片处理15分钟;
在2小时内将温度从1180℃匀速降温至900℃,并通入流量为8L/分钟的纯氮气对所述硅片进行处理。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的