[发明专利]一种高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测用参考试块

说明书

本发明公开了一种高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测专用参考试块。试块采用φ1mm通孔与深度为3mm、4mm、5mm月牙槽作为检测系统调试人工缺陷反射体；具有仪器调试内部、表面及近表面同时显示，一次完成的优点；月牙槽反射体符合真实裂纹特征；不设置模拟瓷瓶弧面，通过实测表格进行弧度补偿，克服了在实际检测工作中多种规格瓷瓶需采用多种规格试块，分别进行仪器调整的缺点，大大提高了工作效率。本发明所述专用参考试块，可以解决目前高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测无专用参考试块的问。

技术领域

本发明涉及材料无损检测技术领域，具体地，涉及一种高压支柱瓷绝缘子(以下简称“瓷瓶”)超声相控阵检测专用参考试块。

背景技术

瓷瓶超声相控阵检测至今尚无专用参考试块，本发明设计、开发制作的试块主要应用于此项工作检测系统性能校准和检测结果评判。利用超声相控阵检测纵波扇形扫查方式，对“瓷瓶”检测范围内的内部缺陷、表面及近表面缺陷进行检测。

目前，超声相控阵检测瓷瓶内部缺陷、表面及近表面缺陷没有相关的产品可供使用。原有的《支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测》一书中所确定的JBX-1试块和传统的超声波检测瓷瓶的试块，无论从仪器调整和缺陷评判角度考虑，均已无法满足超声相控阵瓷瓶检测需要。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述问题，提出一种高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测专用参考试块，以解决瓷瓶超声相控阵检测无参考试块的问题，实现了校准难度小、检测结果直观、精度高和误判率低的优点。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：开发设计一种适合瓷瓶超声相控阵检测用参考试块，采用月牙槽人工反射体作为表面及近表面缺陷检测基准灵敏度调整依据，采用φ1mm通孔作为内部缺陷检测基准灵敏度调整依据，用于超声相控阵检测高压支柱瓷绝缘子的试块本体，实现以下功能：

1.调整检测系统扫描速度；

2.确定检测灵敏度；

3.制作检测DAC曲线；

4.对缺陷进行评定。

所述试块分为I区、II区和III区三个区域。

进一步地，在所述试块Ⅰ区设置8个φ1mm通孔，仪器调整时，从试块本体上、下两端面分别入射，距探测面垂直深度范围为30-180mm，间距10mm；用于纵波入射检测瓷瓶内部缺陷时检测灵敏度调整和DAC曲线制作；

在所述试块Ⅰ区上下两检测面分别设置一个表面开口的模拟裂纹月牙槽，槽长度30mm,宽度为0.4±0.02mm，最大深度5±0.02mm；作为表面及近表面缺陷检测灵敏度调整和DAC曲线制作时的参考反射体。

进一步地，在所述试块Ⅱ区设有9个φ1mm通孔，呈1/4圆周分布，半径为50mm，用于相控阵检测角度增益补偿验证，也用于作为现场临时角度补偿曲线制作依据。

进一步地，在所述试块Ⅲ区设置有2个月牙槽，规格分别为宽度为0.4±0.02mm，最大深度分别为3±0.02mm和4±0.02mm，作为实际检测时表面及近表面缺陷反射对比依据；也能够起到检测系统表面缺陷(近表面)最大检测灵敏度验证作用。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。

下面通过附图和示例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为本发明高压支柱瓷绝缘子超声相控阵检测专用参考试块中检测部位的结构示意图；