[发明专利]场地地层剪切波速快速复测装置及测试方法有效
申请号: | 201410349958.1 | 申请日: | 2014-07-22 |
公开(公告)号: | CN104122577B | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 狄圣杰;单治钢;徐学勇;杜文博;熊潇 | 申请(专利权)人: | 中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司 |
主分类号: | G01V1/00 | 分类号: | G01V1/00;G01V1/20 |
代理公司: | 杭州九洲专利事务所有限公司33101 | 代理人: | 韩小燕 |
地址: | 310014 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 场地 地层 剪切 波速 快速 复测 装置 测试 方法 | ||
1.一种采用单孔法进行场地地层剪切波速测试的方法,其特征在于包括并排连接成整体的第一振源发生器(1)和第一检波器(2),分别与第一振源发生器(1)和第一检波器(2)对应、且并排连成整体的第二检波器(3)和第二振源发生器(4),以及通过信号线分别与第一振源发生器(1)、第一检波器(2)、第二检波器(3)和第二振源发生器(4)相连的计算机(5),测试步骤如下:
S1、在测试钻孔(6)一侧的地面上放置并排连成整体的第一振源发生器(1)和第一检波器(2),同时在测试钻孔(6)孔内放置分别与第一振源发生器(1)和第一检波器(2)对应、且并排连成整体的第二检波器(3)和第二振源发生器(4);
S2、打开第一振源发生器(1)和第二检波器(3),同时关闭第一检波器(2)和第二振源发生器(4),通过第一振源发生器(1)激振,第二检波器(3)接收,进行一次测试,记录波形和波速;
S3、打开第一检波器(2)和第二振源发生器(4),同时关闭第一振源发生器(1)和第二检波器(3),通过第二振源发生器(4)激振,第一检波器(2)接收,进行一次测试,记录波形和波速,完成同一测试点的两次测试;
S4、分别利用公式和计算出该测试点的两次剪切波速测试值Vs1i和Vs2i,式中,hi为测试深度,Δx为第一振源发生器(1)中点到第一检波器(2)中点的距离,以及第二检波器(3)中点到第二振源发生器(4)中点的距离,x为第一振源发生器(1)中点到测试钻孔(6)孔口中心的距离,t1i表示完成步骤S2所述测试所用时间,t2i表示完成步骤S3所述测试所用时间;
S5、根据同一测点的两次或多次测试值,结合地层分布实际情况,确定是否剔除异常值或进行复测,对合理测试值取其平均值作为统计值,得到该测试点的剪切波速。
2.一种采用跨孔法进行场地地层剪切波速测试的方法,其特征在于包括并排连接成整体的第一振源发生器(1)和第一检波器(2),分别与第一振源发生器(1)和第一检波器(2)对应、且并排连成整体的第二检波器(3)和第二振源发生器(4),以及通过信号线分别与第一振源发生器(1)、第一检波器(2)、第二检波器(3)和第二振源发生器(4)相连的计算机(5),测试步骤如下:
S11、将并排连成整体的第一振源发生器(1)和第一检波器(2),以及分别与第一振源发生器(1)和第一检波器(2)对应、且并排连成整体的第二检波器(3)和第二振源发生器(4)分别放入两个测试钻孔(6)内,并保证第一振源发生器(1)和第二振源发生器(4)位于同一标高,第一检波器(2)和第二检波器(3)位于同一标高;
S12、打开第一振源发生器(1)和第二检波器(3),同时关闭第一检波器(2)和第二振源发生器(4),通过第一振源发生器(1)激振,第二检波器(3)接收,进行一次测试,记录波形和波速;
S13、打开第一检波器(2)和第二振源发生器(4),同时关闭第一振源发生器(1)和第二检波器(3),通过第二振源发生器(4)激振,第一检波器(2)接收,进行一次测试,记录波形和波速,完成同一测试点的两次测试;
S14、利用公式和计算出该测试点的两次剪切波速测试值Vs1i和Vs2i,式中,Δx为第一振源发生器(1)中点到第一检波器(2)中点的距离,以及第二检波器(3)中点到第二振源发生器(4)中点的距离,L为两个测试钻孔(6)孔口中心的距离,t1i表示完成步骤S12所述测试所用时间,t2i表示完成步骤S13所述测试所用时间;
S15、结合地层分布实际情况,判定是否需剔除异常值或进行多次复测,对合理测试值取其平均值作为统计值,得到该测试点的剪切波速。
3.根据权利要求1或2所述的场地地层剪切波速测试的方法,其特征在于:所述第一振源发生器(1)中点到第一检波器(2)中点的距离与第二检波器(3)中点到第二振源发生器(4)中点的距离相等。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司,未经中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410349958.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。