[发明专利]一种光纤宏弯衰减测试的装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及光纤测试的技术领域，具体为一种光纤宏弯衰减测试的装置，本发明还提供了一种光纤宏弯衰减测试的方法。

背景技术

现有对光纤宏弯衰减测试时采用的方法是，挑选一种特定外径且直径均匀圆柱状绕线柱(以下称绕线柱)，将待测试光纤按照需求的圈数均匀的缠绕在绕线柱上。由于光纤缠绕在工具上时不易固定、各缠绕圈数间均匀的不易控制以及缠绕圈数的不易清点等因素，大大降低了光纤宏弯衰减测试的效率及测试的准确性。

公开号103776617A《用于光纤宏弯损耗测量时弯曲光纤的装置和方法》通过设计一种带有不同直径的绕线柱，根据不同的测试需求选择相应尺寸的绕线柱，再通过人工绕线的方法将光纤绕在绕线柱上固定后进行测量。该装置能根据不同弯曲半径选择不同的绕线柱，但绕线方法及圈数控制不能有效得到有效的解决。

发明内容

针对上述问题，本发明提供了一种光纤宏弯衰减测试的装置，其使得光纤缠绕时易固定、缠绕圈数均匀控制，也节约单次测试时光纤缠绕总圈数清点的时间、确保光纤缠绕总圈的准确度，确保光纤宏弯衰减测试的高效率及测试准确性。

一种光纤宏弯衰减测试的装置，其技术方案是这样的：其包括底座，所述底座上布置有绕线柱，其特征在于：其还包括上板座，所述上板座的下端面通过直线滑动结构支承于所述底座的上端面，所述上板座的前后端宽度小于所述底座的前后端宽度，所述底座的上端面的前端位置排布有等径的第一绕线柱，所述第一绕线柱的下端通过第一连接杆布置于所述底座的上端面，所述第一绕线柱沿着所述底座的长度方向直线布置；相邻的所述第一绕线柱间留有间距，所述上板座的上端面排布有等径的第二绕线柱，所述第二绕线柱的下端通过第二连接杆布置于所述上板座的上端面，所述第二绕线柱沿着所述底座的长度方向直线布置，相邻的所述第二绕线柱间留有间距，所述第一绕线柱、第二绕线柱的直径相同，工作状态下的第二绕线柱、第一绕线柱相互潜入各自相邻的绕线柱的间距内且对应的圆心排成一直线。

其进一步特征在于：所述底座的上端面的一侧布置有第一黏贴块，所述上板座的上端面的另一侧布置有第二黏贴块；

所述直线滑动结构具体包括上凸直线导轨、直线轴承座，所述底座的上端面的两侧分别设置有所述上凸直线导轨，所述上板座的下端面的两侧分别紧固有所述直线轴承座，所述直线轴承座嵌装并支承于对应侧的所述上凸直线导轨；

所述第一绕线柱、第二绕线柱排布于两侧的所述上凸直线导轨之间所形成的平面内；

所述上座板的下端面还设置有锁紧装置，所述锁紧装置包括夹板定块、活动夹块、旋转螺栓、夹块结构，所述上板座的下端面的一侧紧固有所述夹板定块，所述夹板定块的外侧布置有所述旋转螺栓，所述旋转螺丝的螺纹部分贯穿所述夹板定块的直线导向孔后螺纹连接所述活动夹块，所述活动夹块的上端位于所述夹板定块的直线导向槽内，所述活动夹块对应于所述夹板定块的水平横向投影位置布置所述夹块结构，所述夹块结构、活动夹块之间为对应侧所述上凸直线导轨；

所述上板座的对应于所述第一连接杆的水平纵向投影位置开有避让定位槽，所述避让定位槽确保所述第一连接杆和所述第二连接杆处于同一直线上、进而使得第二绕线柱、第一绕线柱相互潜入各自相邻的绕线柱的间距内排成一直线；

所述第一绕线柱、第二绕线柱的高度相同；

所述第一连接杆的底部插装于所述底座的定位孔内，所述第二连接杆的底部插装于所述上板座的定位孔内，其使得第一绕线柱、第二绕线柱可以根据光纤长度的需要进行放置，使得整个结构的通用性好。

一种光纤宏弯衰减测试的方法，其技术方案是这样的：其根据测试时光纤缠绕时所需缠绕单圈直径及缠绕总圈数所设计，其特征在于：两侧均布直径相同的两排绕线柱，光纤安装至两排的绕线柱之间的间隙中，光纤的一端固定，通过将光纤两侧的绕线柱向中间靠拢至相邻绕线柱接近相切接触时，固定另一端光纤，缠绕光纤时可根据测试需求任意选择通过绕线柱个数。

其进一步特征在于：

根据宏弯测试圈数的需求，选择合适的绕线柱个数以达到光纤缠绕的圈数,之后采取如下具体步骤：

a、将光纤放置在第一绕线柱、第二绕线柱所形成的两排绕线柱之间位置，将光纤的一端用光纤固定用标签纸固定第一黏贴块，且使得光纤的位置正好与第一黏贴块最近的第一绕线柱内切，光纤另一端暂不固定保持可伸缩状态；

b、将布置有第二绕线柱的上板座缓慢向第一绕线柱靠拢，第一绕线柱、第二绕线柱的圆心接近一直线时，将光纤的另一端放置在与固定端相同的水平面上，保证光纤贴合绕线柱时的弯曲长度为绕线柱的半圆；