[发明专利]一种用于模拟忆阻元件的实验装置

权利要求书

1.一种用于模拟忆阻元件的实验装置，其特征是，它包括积分电路、V/I变换电路、非线性电阻和反馈电路，所述V/I变换电路包括两个运算放大器和五个电阻，第一运算放大器（F1）的同相输入端经第一电阻（R1）接积分电路的输出端，反相输入端经第二电阻（R2）接地并经第三电阻（R3）接其输出端，输出端依次经第四电阻（R4）和非线性电阻接地，第二运算放大器（F2）接成电压跟随器，其输入端接于第四电阻（R4）和非线性电阻之间，输出端经第五电阻（R5）接第一运算放大器（F1）的同相输入端。

2.根据权利要求1所述的用于模拟忆阻元件的实验装置，其特征是，所述反馈电路包括微分电容（C1）、两个运算放大器和三个电阻，第三运算放大器（F3）的同相输入端经第六电阻（R6）接地，反相输入端经第七电阻（R7）接其输出端并经第八电阻（R8）接于第四电阻（R4）和非线性电阻之间，第四运算放大器（F4）采用AD844，其同相输入端接第三运算放大器（F3）的输出端，反相输入端经微分电容（C1）接地，TZ端接积分电路的输入端。

3.根据权利要求1或2所述的用于模拟忆阻元件的实验装置，其特征是，所述积分电路包括第五运算放大器（F5）、积分电容（C2）和第九电阻（R9），第五运算放大器（F5）采用AD844，其同相输入端为积分电路的输入端，反相输入端经第九电阻（R9）接地，TZ端经积分电容（C2）接地。

4.根据权利要求3所述的用于模拟忆阻元件的实验装置，其特征是，所述非线性电阻由二极管（D）和两个电阻连接而成，第十电阻（R10）与二极管（D）串联连接后再与第十一电阻（R11）并联连接。