[发明专利]一种利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法有效
申请号: | 201410361347.9 | 申请日: | 2014-07-28 |
公开(公告)号: | CN104095635A | 公开(公告)日: | 2014-10-15 |
发明(设计)人: | 王丽嘉;裴孟超;董芳;李建奇;聂生东;王远军 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055;G06T11/00 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 吴宝根 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 回归 模型 计算 磁共振 图像 表观 弥散 系数 方法 | ||
1.一种利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法,其特征在于,具体包括如下步骤:
1) 用多个且等间隔b值DWI成像序列采集得到多幅不同b值的磁共振图像;
2) 对采集的多b值DWI图像信号:从第一个b值到第三个b值开始,进行两个b值间隔长度(相邻三个数据点)的Simpson法则数值积分,然后从第二个b值到第四个b值进行两个b值间隔长度(相邻三个数据点)的Simpson法则数值积分,依次下去,从而形成一个DWI积分数值随b值变化的信号序列;
3) 将所述DWI信号积分的序列建立成自回归模型,最后一个b值DWI信号值可表示成由邻近的前两个b值DWI信号值的线性组合形式;
4) 对步骤3)建立的自回归模型进行最大似然估计从而求解系数得到表观弥散系数ADC值;
5) 对步骤1)的磁共振图像中被试体内所有像素计算ADC值,得到所述磁共振ADC图像。
2.根据权利要求1所述利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法,其特征在于,所述步骤2)中Simpson法则数值积分表示成公式:
其中Δb表示所设的相等的相邻b值间隔值,表示扩散梯度系数为b时采集的图像信号;表示为第i个b值,i=1,2,……,N-2,N表示b值总数。
3.根据权利要求2所述利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法,其特征在于,所述步骤3)中DWI信号积分的序列建立成自回归模型表示成公式:
。
4.根据权利要求3所述利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法,其特征在于,所述步骤4) 中对所述的自回归模型进行最大似然估计表示成公式:
;
最后对ADC求解得到的解析式表示成公式:
,其中 ,ΔTE表示所设的相等的相邻b值对应的回波时间差值。
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