[发明专利]一种矢量CRC校验指令的设计方法

权利要求书

1.一种矢量CRC检验指令的设计方法，设计了一种全新的矢量CRC执行单元，在此基础上实现了矢量CRC5校验指令、矢量CRC8校验指令、矢量CRC16校验指令、矢量CRC24校验指令、矢量CRC32校验指令的设计以及使用这些指令设计的CRC校验装置。

2.如权利要求1所述的一种矢量CRC检验指令的设计方法，其特征在于，所述矢量CRC执行单元包括硬件复用管理单元和状态寄存器并行转移单元，硬件复用管理单元控制各条矢量CRC指令充分复用硬件资源，可以保证使用较少的硬件资源即可完成多条矢量CRC指令的设计，减少了硬件开销；状态寄存器并行转移单元在输入8bit数据后只需要一个周期即可完成状态寄存器值的转移，执行时间短，运行效率高。

3.如权利要求1所述的一种矢量CRC检验指令的设计方法，其特征在于，所述的矢量CRC5校验指令：是一条8路并行CRC校验指令，每次将初始CRC余数和8bit数据送入CRC执行单元，一个周期后即可得出新的CRC余数，将所有数据计算完成后，状态寄存器中剩余的5bit数据即是CRC校验结果。

4.如权利要求1所述的一种矢量CRC检验指令的设计方法，其特征在于，所述的矢量CRC8校验指令：是一条8路并行CRC校验指令，每次将初始CRC余数和8bit数据送入CRC执行单元，一个周期后即可得出新的CRC余数，将所有数据计算完成后，状态寄存器中剩余的8bit数据即是CRC校验结果。

5.如权利要求1所述的一种矢量CRC检验指令的设计方法，其特征在于，所述矢量CRC16校验指令：是一条8路并行CRC校验指令，每次将初始CRC余数和8bit数据送入CRC执行单元，一个周期后即可得出新的CRC余数，将所有数据计算完成后，状态寄存器中剩余的16bit数据即是CRC校验结果。

6.如权利要求1所述的一种矢量CRC检验指令的设计方法，其特征在于，所述的矢量CRC24校验指令：是一条8路并行CRC校验指令，每次将初始CRC余数和8bit数据送入CRC执行单元，一个周期后即可得出新的CRC余数，将所有数据计算完成后，状态寄存器中剩余的24bit数据即是CRC校验结果。

7.如权利要求1所述的一种矢量CRC检验指令的设计方法，其特征在于，所述的矢量CRC32校验指令：是一条8路并行CRC校验指令，每次将初始CRC余数和8bit数据送入CRC执行单元，一个周期后即可得出新的CRC余数，将所有数据计算完成后，状态寄存器中剩余的32bit数据即是CRC校验结果。

8.如权利要求1所述的一种矢量CRC检验指令的设计方法，其特征在于，本设计方法不仅适用于设计如权利要求1所述的各条CRC指令，也适用于设计任意多项式的CRC指令，按本文提供的设计方法可以设计出任意多项式的CRC校验指令。

9.如权利要求1所述的一种矢量CRC检验指令的设计方法，其特征在于，本设计方法可以设计如权利要求2至权利要求6所述的8路并行的CRC指令，还可以设计任意路并行的CRC指令。

10.如权利要求1所述的一种矢量CRC检验指令的设计方法，其特征在于，所述的CRC校验装置：利用本方法设计的CRC指令和处理器的读取、存储数据指令完成CRC校验，在此CRC校验装置中充分利用了流水线技术和多指令并发技术，可以极大的提高CRC校验的效率。