[发明专利]抗扰触控感测结构有效

专利信息
申请号: 201410367553.0 申请日: 2014-07-29
公开(公告)号: CN105320334B 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 李杏樱;唐大庆;卢添荣 申请(专利权)人: 南京瀚宇彩欣科技有限责任公司;瀚宇彩晶股份有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 赵蓉民
地址: 210038 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 触控感测 第一基板 斑块 共平面 间隙区
【说明书】:

发明的名称是抗扰触控感测结构。一种抗扰触控感测结构包括第一基板、多个触控感测单元以及至少一个第一抗扰斑块。触控感测单元共平面地设置于第一基板上,相邻的所述触控感测单元之间形成第一间隙区。第一抗扰斑块设置于第一间隙区内。

【技术领域】

本发明涉及一种触控感测结构,特别涉及一种抗扰触控感测结构。

【背景技术】

近年来,触控技术已经逐渐广泛应用于一般的消费性电子商品上,例如移动通讯装置、数字相机、数字音乐播放器(MP3)、个人数字助理器(PDA)、卫星导航器(GPS)、掌上型计算机(hand-held PC),甚至崭新的超级移动计算机(Ultra Mobile PC,UMPC)等。触控技术可以多种形式应用于显示面板上,例如外加触控面板于显示面板上,此即为外挂式,或是直接在显示面板上制作触控感测单元,此即为内嵌式,这又分为on-cell与in-cell两种。然而,现有的触控感测结构遇到良率下降的问题。

以一种公知的触控感测结构来说,其包含基板和多个触控感测组件,触控感测组件设置于基板上用以感测使用者的触控而产生电信号,电信号经过处理后即可得到使用者的触控坐标。然而,由于触控感测组件之间仅隔10μm~30μm之间的间隙,因此当工艺中有粒子掉落或者刮伤产生时,左右或上下相邻的触控感测组件很容易形成短路,而造成触控功能失效以及良率下降。

因此,如何提供一种抗扰触控感测结构,能够解决上述短路的问题,进而提升触控效能及产品良率,实为当前重要课题之一。

【发明内容】

有鉴于上述课题,本发明的目的在于提供一种抗扰触控感测结构,能够解决工艺中造成短路的问题,进而提升触控效能及产品良率。

为达上述目的,本发明的一种抗扰触控感测结构包括第一基板、多个触控感测单元以及至少一个第一抗扰斑块。触控感测单元共平面地设置于第一基板上,相邻的所述触控感测单元之间形成第一间隙区。第一抗扰斑块设置于第一间隙区内。

在一实施例中,第一抗扰斑块电性浮接。

在一实施例中,第一抗扰斑块覆盖所述触控感测单元的至少一部分,并填入第一间隙区中。

在一实施例中,所述多个触控感测单元包含多个沿第一方向导通的第一触控感测组件,以及多个沿第二方向导通的第二触控感测组件。

在一实施例中,第一抗扰斑块的宽度介于50μm与70μm之间,且第一抗扰斑块与相邻的触控感测单元之间间隔一距离。

在一实施例中,第一间隙区的宽度介于70μm与130μm之间。

在一实施例中,抗扰触控感测结构进一步包括接地单元以及至少一个第二抗扰斑块。接地单元与所述多个触控感测单元共平面,且与相邻的触控感测单元之间形成第二间隙区。第二抗扰斑块设置于第二间隙区内。

在一实施例中,通过第一抗扰斑块设置于相邻触控感测单元所形成第一间隙区之间,可使相邻触控感测单元的间距加大、不会受到后续工艺的粒子污染而形成短路,从而提供电性抗扰的效用。

在一实施例中,其中的后续工艺至少包括机械薄化工艺、化学薄化工艺、机械化学薄化工艺、黄光工艺、薄膜沉积工艺、和/或薄膜蚀刻工艺。

在一实施例中,第一抗扰斑块为一个块状斑块或包含至少一个弯折状斑块。

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