[发明专利]触摸检测电路、触摸检测方法及电子设备有效
申请号: | 201410370405.4 | 申请日: | 2014-07-30 |
公开(公告)号: | CN104346016B | 公开(公告)日: | 2018-11-02 |
发明(设计)人: | 鹰嘴和邦 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 触摸 检测 电路 方法 电子设备 | ||
1.一种触摸检测电路,包括:
映射生成部,被配置为将与外部接近物体的接近状态对应的触摸信号和多个阈值中的每一个比较,以生成均示出触摸区的多个映射数据;
标记部,被配置为基于所述多个映射数据之间的所述触摸区的包含关系,在所述多个映射数据中的所述触摸区上选择性地进行标记;以及
检测部,被配置为基于所述标记部的处理结果执行触摸检测,其中,所述标记部通过以下步骤生成表示所述触摸区和标记之间的对应的第一标记组:
向每一个映射数据中的各个触摸区提供所述标记,以及
从所述多个映射数据顺次选择与彼此相邻的两个阈值对应的两个映射数据,并基于已选的所述两个映射数据中的所述触摸区的所述包含关系替换所述标记。
2.根据权利要求1所述的触摸检测电路,进一步包括:
阈值设定部,被配置为基于所述触摸信号设定所述多个阈值。
3.根据权利要求1所述的触摸检测电路,其中,所述检测部检测触摸事件的数目和触摸位置。
4.根据权利要求1所述的触摸检测电路,其中,所述标记部通过以下步骤生成所述第一标记组:
当已选的所述两个映射数据中的对应于低阈值的低阶映射数据中的一个触摸区包括对应于高阈值的高阶映射数据中的多个触摸区时,用与所述低阶映射数据中的所述一个触摸区的标记相同的标记替换所述高阶映射数据中的所述多个触摸区中的一个的标记,以及
当已选的所述两个映射数据中的所述低阶映射数据中的一个触摸区包括所述高阶映射数据中的单个触摸区时,用与所述一个触摸区的标记相同的标记替换所述单个触摸区的标记。
5.根据权利要求1所述的触摸检测电路,其中,所述标记部通过在生成所述第一标记组后,从所述多个映射数据顺次选择与彼此相邻的两个阈值对应的两个映射数据,并且当已选的所述两个映射数据中的对应于低阈值的低阶映射数据中的一个触摸区包括对应于高阈值的高阶映射数据中的多个触摸区时,移除所述第一标记组中的所述一个触摸区的标记,来生成第二标记组。
6.根据权利要求1所述的触摸检测电路,其中,所述标记部从对应于高阈值的映射数据开始依次选择所述两个映射数据。
7.根据权利要求6所述的触摸检测电路,其中,所述标记部通过以下步骤生成所述第一标记组:
当所选的所述两个映射数据中的对应于低阈值的低阶映射数据中的一个触摸区包括对应于高阈值的高阶映射数据中的多个触摸区时,用虚标记替换所述一个触摸区的标记,以及
当所选的所述两个映射数据中的所述低阶映射数据中的一个触摸区包括所述高阶映射数据中的单个触摸区时,用与所述单个触摸区的标记相同的标记替换所述一个触摸区的标记。
8.根据权利要求7所述的触摸检测电路,其中,所述标记部通过在生成所述第一标记组后从所述第一标记组移除所述虚标记,来生成第二标记组。
9.一种触摸检测电路,包括:
映射生成部,被配置为将与外部接近物体的接近状态对应的触摸信号和多个阈值中的每一个比较,以生成均示出触摸区的多个映射数据;
标记部,被配置为基于所述多个映射数据之间的所述触摸区的包含关系,在所述多个映射数据中的所述触摸区上选择性地进行标记;以及
检测部,被配置为基于所述标记部的处理结果执行触摸检测,
其中,所述标记部通过从所述多个映射数据顺次选择与彼此相邻的两个阈值对应的两个映射数据,并基于所选的所述两个映射数据中的所述触摸区的包含关系向每一个所述映射数据中的各个触摸区提供标记,来生成表示所述触摸区和标记之间的对应的第一标记组。
10.根据权利要求9所述的触摸检测电路,其中,所述标记部从对应于低阈值的映射数据开始依次选择所述两个映射数据。
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