[发明专利]一种高速光模块的测试方法及测试系统有效
申请号: | 201410373057.6 | 申请日: | 2014-07-31 |
公开(公告)号: | CN104125012B | 公开(公告)日: | 2016-10-19 |
发明(设计)人: | 王彦伟;王侃 | 申请(专利权)人: | 深圳市共进电子股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/07 | 分类号: | H04B10/07 |
代理公司: | 深圳市智科友专利商标事务所 44241 | 代理人: | 孙子才 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区蛇口南海大道1019号*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高速 模块 测试 方法 系统 | ||
1.一种高速光模块的测试方法,该方法对高速光模块输出光信号进行测试,包括以下步骤:
步骤1、高速光模块发送调制有由码型产生单元产生的数码的光信号;
步骤2、对光信号进行控制使光信号的光功率恒定不变;
步骤3、利用光电二极管接收光信号,测量光电二极管接收到的光信号的光功率 ;
步骤4、将光电二极管输出的电信号经过线性跨阻放大器输出,测量线性跨阻放大器的输出电压,并利用下列公式计算光调制幅度OMA:
,
,
式中:是线性跨阻放大器的跨阻,是光电二极管接收光转换的光电流,R是响应度,单位是A/W;
步骤5、按下列公式计算高速光模块输出光信号的消光比ER:
;
步骤6、利用标准接收管接收光信号产生电信号;
步骤7、对电信号进行解调成为数码,并将该数码与码型产生单元产生的数码进行比对,计算出误码率SNR。
2.根据权利要求1所述的一种高速光模块的测试方法,其特征在于:光电二极管和线性跨阻放大器在恒温下工作。
3.根据权利要求1所述的一种高速光模块的测试方法,其特征在于:码型产生单元产生伪随机码。
4.一种高速光模块检测系统,包括用来承载被测高速光模块,并且将所述的被测高速光模块的信号接口以及控制接口引出的测试治具;其特征在于:包括误测试单元和消光比测试单元;
所述的误测试单元的输出端与被测高速光模块的发射信号输入端相连,所述的误测试单元的输入端接收所述的被测高速光模块的输出光信号;
所述的消光比测试单元包括可调光衰减器、光电二极管、线性跨阻放大器、光功率计、电压计和控制模块;
所述的可调光衰减器的输入端与所述的被测高速光模块输出的光信号相连,在所述的控制器控制下输出恒定的第一光信号;所述的光功率计测量第一光信号的功率,所述的光功率计的输出接所述的控制模块;
所述的光电二极管接收所述的第一光信号输出的电信号接线性跨阻放大器输入端,所述的电压计测量线性跨阻放大器的输出电压,接所述的控制模块;
在所述的控制模块中实现以下计算:
,
,
式中:是线性跨阻放大器的跨阻,是光电二极管接收光转换的光电流,R是响应度,单位是A/W,OMA是光调制幅度。
5.根据权利要求4所述的高速光模块检测系统,其特征在于:所述的误测试单元包括码型产生单元、标准接收管测试单元、误码检测单元;
所述的码型产生单元产生伪随机码接所述的被测高速光模块的发射信号输入端,所述的被测高速光模块的光发射端接所述的标准接收管测试单元的输入端,所述的标准接收管测试单元生成的接收信号接所述的误码检测单元。
6.根据权利要求5所述的高速光模块检测系统,其特征在于:所述的标准接收管测试单元接收的信号是通过所述的可调光衰减器稳定后的被测高速光模块的光信号。
7.根据权利要求6所述的高速光模块检测系统,其特征在于:还包括一个第一分光路器,所述的第一分光路器的输入端接所述的可调光衰减器的输出端,所述的第一分光路器的第一输出口接所述的标准接收管测试单元接收端,所述的第一分光路器的第二输出口接所述的消光比测试单元。
8.根据权利要求7所述的高速光模块检测系统,其特征在于:在所述的消光比测试单元中,还包括一个第二分光路器,所述的第二分光路器的输入端接所述的第一分光路器的第二输出口,所述的第二分光路器的第一输出口接所述的光电二极管;所述的二分光路器的第二输出口接所述的光功率计。
9.根据权利要求4所述的高速光模块检测系统,其特征在于:还包括实现所述的光电二极管、线性跨阻放大器恒温工作的恒温系统,所述的恒温系统包括测量所述的光电二极管、线性跨阻放大器的工作温度的热敏电阻和半导体制冷器,所述的热敏电阻测量工作温度所产生的电压信号输入到所述的控制模块,所述的控制模块产生控制信号控制所述的半导体制冷器的工作。
10.根据权利要求4至9中 任一所述的高速光模块检测系统,其特征在于:还包括显示装置,所述的显示装置与所述的控制模块相连。
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