[发明专利]一种用于CMOS图像传感器的暗电平校正的算法及其系统

权利要求书

1.一种用于CMOS图像传感器的暗电平校正的算法，其特征在于，该算法包括：

S1、后台系统设定暗电平上限和输出数据偏移量；

S2、输入带有暗电平信息行的图像；

S3、用中值滤波算法校正暗电平信息行的缺陷像素；

S4、计算滤波校正后暗电平信息行各像素通道的平均暗电平；

S5、调整输出数据偏移量；

S6、对输入图像数据进行暗电平校正；

S7、输出正常图像；

步骤S5中所述调整输出数据偏移量，采用下述公式(1)：

$\left\{\begin{array}{c}{\mathrm{Offset}}^{\′}=\left\{\begin{array}{cc}Offset;& DC\_Max\<DC\_Lim\\ Offset+DC\_Max-DC\_Lim;& DC\_Max\≥DC\_Lim\end{array}\right.\\ DC\_Max=MAX(DC\_{\mathrm{Avg}}_0,DC\_{\mathrm{Avg}}_1,\mathrm{......},DC\_{\mathrm{Avg}}_n)\end{array}\right.---\left(1\right)$

式(1)中，Offset′是调整后的输出数据偏移量；Offset是输出数据偏移量；DC_Max是各像素通道平均暗电平中的最大平均暗电平；DC_Lim是暗电平上限；

设定：DC_Avg₀,DC_Avg₁,……,DC_Avg_n＝DC_Avg_i，i＝0,1……,n，DC_Avg_i是i通道的平均暗电平，i为CMOS图像传感器各像素通道中的任意一个；n是像素通道个数。