[发明专利]集成电感结构在审
申请号: | 201410383376.5 | 申请日: | 2014-08-06 |
公开(公告)号: | CN105448885A | 公开(公告)日: | 2016-03-30 |
发明(设计)人: | 黄凯易;颜孝璁 | 申请(专利权)人: | 瑞昱半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/522 | 分类号: | H01L23/522;H01L23/528 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 苏捷;向勇 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成 电感 结构 | ||
技术领域
本发明涉及集成电感结构,尤其涉及一种高度紧实化的集成电感结构。
背景技术
芯片内电感(on-chipinductor)因工艺上的限制一般设计成平面式电感(plannerinductor)。请参阅图1,其是现有的螺旋状平面式电感(plannerspiralinductor)。螺旋状平面式电感100包含螺旋状的第一金属线段110(浅色部分),以及第二金属线段120(深色部分)。第一金属线段110与第二金属线段120在半导体结构中分属不同层,图1中以第一金属线段110在上层且第二金属线段120在下层为例,然而亦有可能相反。第一金属线段110与第二金属线段120通过连接结构130互相连接。第一金属线段110包含了3层线圈。当此螺旋状平面式电感100的电感值需要增加时,必须增加其线圈数。线圈数的增加除了导致螺旋状平面式电感100的面积增加之外,螺旋状平面式电感100的寄生串联电阻(parasiticseriesresistance)以及寄生电容(parasiticcapacitance)亦会增加,如此将造成螺旋状平面式电感100的自振频率(self-resonantfrequency)及品质因素(qualityfactor)Q下降。此外,金属耗损(metalloss)以及基板耗损(substrateloss)也是影响品质因素Q的重要因素。金属耗损是由于金属本身的阻值所导致。基板耗损来源有两种,一种是来自于当电感作用时,电感的金属线圈以及基板之间产生一时变的电位移(electricdisplacement),此电位移在金属线圈与基板之间产生一位移电流(displacementcurrent),此位移电流穿透至低阻抗的基板内,形成能量的损耗。此位移电流与电感线圈面积相关,面积越大,位移电流越大。另一种是来自于电感的时变电磁场穿透介电质,在基板上产生感应电流(magneticallyinducededdycurrent),此感应电流与电感电流的方向相反,造成能量的损耗。
当电感操作于低频时,金属线圈中的电流会呈现均匀分布,此时金属耗损在低频时是来自于金属线圈的串联电阻。当电感操作于高频时,越靠近内圈的金属线圈产生越强的磁场。强烈的磁场在金属线圈的内圈感应出涡状电流(eddycurrent),此涡状电流造成电流不均匀分布,大部分的电流都被推挤到金属线圈的表面,此现象称为趋肤效应(skineffect)。在趋肤效应下,电流流过的金属截面变小,因此将感受到较大的电阻,而造成品质因素Q下降。请参阅图2,其是现有螺旋状平面式电感的另一实施方式。因电感金属线圈的内圈是发生趋肤效应最严重的位置,此种金属线圈的线宽由外往内逐渐变细的螺旋状电感(taperedspiralinductor)不但不会使趋肤效应恶化,而且可以缩小电感面积并且降低寄生电容,进而提高品质因素Q以及电感的自振频率。但是由于螺旋状电感在结构上不对称,导致电感的中心抽头(centertap)位置很难决定。再者,此种螺旋状电感的电感性中心点(inductivecenter)位置、电容性中心点(capacitivecenter)位置以及电阻性中心点(resistivecenter)位置不相同,造成这种螺旋状的电感不适合作为差动电路里的无源元件。
为了解决上述的问题,现有技术中便提出一种对称式的螺旋状电感(symmetricspiralinductor)。如图3所示,其是现有对称式螺旋状电感的结构图。对称式螺旋状电感300包含多个金属线段310(包含310a~310d)、多个连接线段320(包含320a~320c)以及多个连接结构330。连接线段320亦可称为跳线(bridge)。所有的金属线段310a~310d在半导体结构上属于同一层(以浅色表示),所有的连接线段320a~320c的材质为金属,与金属线段310a~310d不同层(以深色表示),图3中以连接线段320a~320c位于金属线段310a~310d的下层为例。
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