[发明专利]一种安全芯片掉电测试设备

说明书

本发明公开了一种安全芯片掉电测试设备，包括：主控模块、开关模块、芯片插卡槽，所述主控模块通过USB接口与上位机进行通信，接收所述上位机的掉电指令，并对所述掉电指令进行解析得到掉电控制信号；所述主控模块通过所述开关模块将所述掉电控制信号传输到所述芯片插卡槽的待测芯片，控制所述待测芯片进行掉电。本发明的安全芯片掉电测试设备，通过单片机控制双向转换芯片上下电，延时时间短，时间精确；既支持7816接口芯片测试，也支持SPI接口芯片测试，应用范围广；通过APDU命令控制掉电，掉电起始点设置方式多，使用灵活，测试更全面。

技术领域

本发明涉及智能芯片的掉电测试技术领域，具体地，涉及一种安全芯片掉电测试设备。

背景技术

掉电测试是智能电表安全芯片一项重要测试，其主要是考核安全芯片在通信过程中出现突然掉电时，内部数据特别是EEPROM中数据是否会被改写。掉电测试的主要工作流程是：安全芯片进行正确上电，向安全芯片发送测试APDU命令，在发送完测试APDU后，在某个不确定的时间进行突然掉电，掉电结束后，重新对芯片进行上电，发送校验APDU命令对芯片进行验证，分析芯片内部数据是否被改写。

在现有技术中，主要针对7816接口芯片进行掉电测试，支持两种掉电起始点选择，掉电时间间隔最小为1ms，通过测试软件完成相应测试，如果测试线性定长文件的掉电特性，需开发相应的校验脚本和更新脚本。

通过对以上现有技术的分析，可以发现现有的掉电测试设备存在以下问题：

1、只支持单一的7816接口芯片，无法对SPI接口芯片进行测试；

2、只支持两种掉电起始点选择；

3、掉电时间间隔为1ms，时间间隔较长，间隔缩短后影响设备寿命。本专利解决了以上技术缺点，使用更方便，功能更全面。

发明内容

为了解决现有技术中存在的无法对SPI接口安全芯片进行有效掉电测试的问题，本发明提出了一种安全芯片掉电测试设备。

本发明的安全芯片掉电测试设备，包括：主控模块、开关模块、芯片插卡槽，所述主控模块通过USB接口与上位机进行通信，接收所述上位机的掉电指令，并对所述掉电指令进行解析得到掉电控制信号；

所述主控模块通过所述开关模块将所述掉电控制信号传输到所述芯片插卡槽的待测芯片，控制所述待测芯片进行掉电。

本发明的安全芯片掉电测试设备，通过单片机控制双向转换芯片上下电，延时时间短，时间精确；既支持7816接口芯片测试，也支持SPI接口芯片测试，应用范围广；通过APDU命令控制掉电，掉电起始点设置方式多，使用灵活，测试更全面。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为本发明的安全芯片掉电测试设备的结构原理图；

图2为本发明实施例的安全芯片掉电测试设备的结构原理图；

图3为本发明实施例中掉电测试时不同的掉电起始点示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明的具体实施方式进行详细描述，但应当理解本发明的保护范围并不受具体实施方式的限制。