[发明专利]记录介质

说明书

技术领域

本发明涉及一种记录介质。

背景技术

作为使用在喷墨记录方法等的记录介质，已知在基材上具有包含无机颗粒的多孔质墨吸收层的记录介质。在这种多孔质墨接收层中，当空隙数目大时，墨接收层的折射率低。因此，具有有降低墨接收层表面的折射率，并因此减少记录介质光泽度的趋势。作为提高记录介质光泽度的方法，则已知在记录介质的最表面设置包含胶体二氧化硅的光泽层的方法(日本专利特开2004-050811、2010-030291、7-101142，和2011-140214)。作为包含胶体二氧化硅的记录介质的结果提高了记录介质的光泽度的原因如下所述。与其它无机颗粒相比，胶体二氧化硅可采取其中当形成墨接收层时紧密填充胶体二氧化硅的构成。因此，由于导致光泽度降低的空隙的数量减少，因此光泽度变高。

日本专利特开2004-050811和2010-030291公开了一种记录介质，其顺次具有基材、多孔质墨接收层和包含胶体二氧化硅的最表层。日本专利特开7-101142公开了一种记录介质，其具有包含胶体二氧化硅和树脂颗粒的最表层。日本专利特开2011-140214公开了一种记录介质，其在包含氧化铝水合物的墨接收层上具有包含胶体二氧化硅、聚乙烯醇和阳离子聚氨酯乳液颗粒的最表层。

发明内容

根据本发明的记录介质顺次包括基材、第一墨接收层，和作为最表层的第二墨接收层，其中第一墨接收层为邻接第二墨接收层的层，第一墨接收层包含气相法二氧化硅，第二墨接收层包含胶体二氧化硅和树脂颗粒，且胶体二氧化硅存在于记录介质表面的面积为10％以上且70％以下。

从示例性实施方案的以下说明中，本发明另外的特征将变得显而易见。

具体实施方式

根据本发明人进行的研究，日本专利特开2004-050811、2010-030291、7-101142和2011-140214中记载的记录介质，在一些情况下，虽然光泽度已经得到提高，但墨吸收性低。具体地，日本专利特开2004-050811、2010-030291和7-101142中记载的记录介质，在一些情况下，墨吸收性低，因此在获得图像中产生串珠(beading)。日本专利特开2011-140214中记载的记录介质中，墨吸收性不够充分且光泽度还有提高的空间。

下文中，将参考优选实施方案详细地描述本发明。

本发明人首先研究了具有包含胶体二氧化硅的墨接收层的记录介质的墨吸收性降低的原因。

如上所述，胶体二氧化硅可采取其中紧密填充胶体二氧化硅的构成，因此空隙趋向于减少。因而，由于空隙数目小导致记录介质的光泽度变高，但另一方面，因为墨被空隙吸收，由空隙数目小导致的墨吸收性变低。更具体地，仅在调整空隙数量时，光泽度和墨吸收性达到相互平衡的关系。

于是本发明人通过减少胶体二氧化硅的数量到一定程度来增加空隙，从而增加墨吸收性。具体地，已经发现通过设置胶体二氧化硅存在于记录介质表面的面积到70％以下可以充分提高墨吸收性。然而，如上所述，简单地通过减少胶体二氧化硅的数量降低了光泽度。于是光泽度可通过其它方法得以提高。具体地，树脂颗粒进一步引入到含有胶体二氧化硅的最表层(第二墨接收层)，且气相法二氧化硅引入到邻接含有胶体二氧化硅的最表层的墨接收层(第一墨接收层)。

当树脂颗粒引入到第二墨接收层时，树脂颗粒本身具有光泽度且进入胶体二氧化硅不存在的区域，以便使记录介质表面变得更光滑，由此提高记录介质的光泽度。此外，由于气相法二氧化硅包含在第一墨接收层(其为邻接最表层的层)中，因此第一墨接收层和作为最表层的第二墨接收层之间的折射指数的差变大，从而第一墨接收层与第二墨接收层的界面的光反射率变高，因此提高了记录介质的光泽度。因为树脂颗粒可以通过吸收墨而膨胀，所以即使当树脂颗粒紧密填充时，也不会损害墨吸收性。

当本发明人进一步研究时，发现当胶体二氧化硅存在于记录介质表面上的面积为10％以上时，显示通过使用树脂颗粒和气相法二氧化硅的光泽度提高效果。发现当胶体二氧化硅存在于记录介质表面的面积小于10％时，通过胶体二氧化硅的光泽度提高效果低，甚至当使用树脂颗粒和气相法二氧化硅时，无法充分得到记录介质整体的光泽度。

关于上述机制，因为各元素以协同的方式相互影响，所以可以实现本发明的效果。

[记录介质]