[发明专利]光学构件的检查方法、光学产品的制造方法以及光学构件的检查装置

权利要求书

1.一种光学构件的检查方法，在该检查方法中，将片状的光学构件作为被检查物向具有光源部和拍摄部的检查装置供给，一边使上述光学构件通过上述光源部与上述拍摄部之间，一边自上述光源部向该光学构件的一面侧照射光且自上述光学构件的另一面侧利用上述拍摄部对上述光学构件的被该光照射的部位进行拍摄而检测上述光学构件的缺陷，其特征在于，

使上述光学构件以相对于水平方向倾斜的状态通过上述光源部与上述拍摄部之间，

使通过上述光源部与上述拍摄部之间的上述光学构件成为朝向移动方向去逐渐上升的倾斜状态，

使上述光源部和上述拍摄部中的位于上述光学构件的上侧的一者位于比光学构件的上述拍摄部所拍摄的拍摄部位的正上方靠该光学构件的移动方向上游侧的位置，并且，以使将上述光源部和上述拍摄部相连的线段成为与上述光学构件的移动方向正交的方向的方式配置上述光源部和上述拍摄部，

在上述拍摄部位的正上方不存在上述光源部和上述拍摄部的任一者的状态下，实施上述缺陷的检测。

2.根据权利要求1所述的光学构件的检查方法，其中，

上述光学构件是在最外表面具有粘合层且在该粘合层的背面侧上层叠有偏振膜的层叠体，使该光学构件以上述粘合层位于上表面侧的方式通过上述光源部与上述拍摄部之间。

3.一种光学产品的制造方法，在该制造方法中，从片状的光学构件中切出比该光学构件小的片材，使用该片材来制造光学产品，其中，

使用被实施了权利要求1或2所述的光学构件的检查方法的光学构件，并从经上述检查方法没有发现缺陷的部分中切出上述片材。

4.一种光学构件的检查装置，其用于检查片状的光学构件，该光学构件的检查装置具有光源部和拍摄部，自上述光源部向通过该光源部与上述拍摄部之间的上述光学构件的一面侧照射光且自上述光学构件的另一面侧利用上述拍摄部对上述光学构件的被该光照射的部位进行拍摄而检测缺陷，其特征在于，

以使通过上述光源部与上述拍摄部之间的光学构件成为相对于水平方向倾斜的状态、使通过上述光源部与上述拍摄部之间的上述光学构件成为朝向移动方向去逐渐上升的倾斜状态的方式形成上述光学构件的移动路径，使上述光源部和上述拍摄部中的位于上述光学构件的上侧的一者位于比上述光学构件的上述拍摄部所拍摄的拍摄部位的正上方靠该光学构件的移动方向上游侧的位置，并且，以使将上述光源部和上述拍摄部相连的线段成为与上述移动路径正交的方向的方式配置上述光源部和上述拍摄部，

在上述拍摄部位的正上方不存在上述光源部和上述拍摄部的任一者。