[发明专利]磁头臂组件加载力测试机设置方法及HGA工装

权利要求书

1.一种磁头臂组件加载力测试机设置方法，其特征在于，包括：

将磁头弹簧片组件固定于用以模拟磁头臂组件中的传动手臂的HGA工装上；所述HGA工装上设有用于承载所述磁头弹簧片组件的承载面及用于实现两种不同高度的第一定位基准面、第二定位基准面；

将测试盘片固定于所述磁头臂组件加载力测试机上，以相对于所述磁头弹簧片组件；所述磁头弹簧片组件所在承载面与所述第二定位基准面之间的距离为第一高度，或者，所述磁头弹簧片组件所在承载面与所述第一定位基准面之间的距离为第二高度；

当磁头弹簧片组件处于第一高度时，磁头弹簧片组件对一与其相对的测试盘片施力以得到一正测试加载力，当磁头弹簧片组件处于第二高度时，磁头弹簧片组件对该测试盘片施力以得到一反测试加载力，通过比较正、反测试加载力的差异来调节该测试盘片的高度使之达到一基准高度以进行后续的磁头加载力测试；及

对与所述测试盘片相对的所述磁头弹簧片组件进行磁头加载力测试以完成对所述磁头臂组件加载力测试机的设置。

2.根据权利要求1所述的磁头臂组件加载力测试机设置方法，其特征在于，所述将测试盘片固定于所述磁头臂组件加载力测试机上，以相对于所述磁头弹簧片组件包括：

所述测试盘片包括第一测试盘片与第二测试盘片；

当所述第一测试盘片固定于所述磁头臂组件加载力测试机上，所述磁头弹簧片组件对与其相对的所述第一测试盘片施力，得到一第一基准高度；及

当所述第二测试盘片固定于所述磁头臂组件加载力测试机上，所述磁头弹簧片组件对与其相对的所述第二测试盘片施力，得到一第二基准高度。

3.根据权利要求2所述的磁头臂组件加载力测试机设置方法，其特征在于，所述对与所述测试盘片相对的所述磁头弹簧片组件进行磁头加载力测试以完成对所述磁头臂组件加载力测试机的设置包括：

将固定于所述HGA工装上的所述磁头弹簧片组件进行多次更换，直至更换次数达到一预设值；

对每一所述磁头弹簧片组件分别进行磁头加载力测试，得到与每一所述磁头弹簧片组件对应的加载力值y与加载力值x；

将多个所述加载力值y与加载力值x分别组合，得出一加载力值y的集合Y与加载力值x的集合X；

对所述集合Y与集合X进行线性回归分析，得到一公式Y＝kX+b，其中k、b为一常数；及

将所述公式代入所述磁头臂组件加载力测试机，以完成对所述磁头臂组件加载力测试机的设置。

4.根据权利要求3所述的磁头臂组件加载力测试机设置方法，其特征在于，所述对每一所述磁头弹簧片组件分别进行磁头加载力测试，得到与每一所述磁头弹簧片组件对应的加载力值y与加载力值x包括：

令所述第一测试盘片位于所述第一基准高度，对与所述第一测试盘片相对的所述磁头弹簧片组件的第一位置进行磁头加载力测试，得到所述加载力值y；及

令所述第二测试盘片位于所述第二基准高度，对与所述第二测试盘片相对的所述磁头弹簧片组件的第二位置进行磁头加载力测试，得到所述加载力值x。

5.根据权利要求2所述的磁头臂组件加载力测试机设置方法，其特征在于，所述得到一第一基准高度或者得到一第二基准高度包括：

当所述磁头弹簧片组件位于所述第一高度时，所述磁头弹簧片组件对与其相对的所述第一测试盘片施力以得到一正测试加载力，当所述磁头弹簧片组件位于所述第二高度时，所述磁头弹簧片组件对与其相对的所述第一测试盘片施力以得到一反测试加载力；及

当所述正测试加载力与所述反测试加载力的差异小于一第一预设值时，固定于所述磁头臂组件加载力测试机上的所述第一测试盘片所在的高度即为所述第一基准高度，或者，当所述正测试加载力与所述反测试加载力的差异小于一第二预设值时，固定于所述磁头臂组件加载力测试机上的所述第二测试盘片所在的高度即为所述第二基准高度。