[发明专利]静态机械参数测试仪的精度分析方法及HGA工装有效

专利信息
申请号: 201410385315.2 申请日: 2014-08-06
公开(公告)号: CN105372044B 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: 陈军;徐增会;杜浩;王沛 申请(专利权)人: 深圳长城开发科技股份有限公司
主分类号: G01M13/00 分类号: G01M13/00
代理公司: 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232 代理人: 刘抗美;刘耿
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 静态 机械 参数 测试仪 精度 分析 方法 hga 工装
【权利要求书】:

1.一种静态机械参数测试仪的精度分析方法,其特征在于,该精度分析方法以HGA工装模拟磁头臂组件中的传动手臂,并通过该HGA工装对该磁头臂组件中的磁头弹簧片组件进行磁头倾斜角的测试及比较,以完成对该静态机械参数测试仪的精度分析,其包括以下步骤:

将所述磁头弹簧片组件固定在所述HGA工装上,其中,所述HGA工装上设有用于承载所述磁头弹簧片组件的承载面及用于实现两种不同高度的第一定位基准面、第二定位基准面,且所述承载面位于所述第一定位基准面与所述第二定位基准面之间,以所述第二定位基准面与所述承载面之间的距离为一第一高度,以所述第一定位基准面与所述承载面之间的距离为一第二高度;及

当所述磁头弹簧片组件分别位于所述第一高度与所述第二高度时,对所述静态机械参数测试仪进行精度分析。

2.根据权利要求1所述的精度分析方法,其特征在于,所述当所述磁头弹簧片组件分别位于所述第一高度与所述第二高度时,对所述静态机械参数测试仪进行精度分析的步骤包括以下步骤:

当所述磁头弹簧片组件位于所述第一高度时,对所述磁头弹簧片组件进行磁头倾斜角测试,得到对应所述第一高度的第一测试值,其中,所述第一测试值包括一第一前后值与一第一左右值,当所述磁头弹簧片组件位于所述第二高度时,对所述磁头弹簧片组件进行磁头倾斜角测试,得到对应所述第二高度的第二测试值,其中,所述第二测试值包括一第二前后值与一第二左右值;

比较所述第一前后值与所述第二前后值的差异,得到一第一差异值,比较所述第一左右值与所述第二左右值的差异,得到一第二差异值;及

当所述第一差异值小于一第一预设值,且当所述第二差异值小于一第二预设值时,所述静态机械参数测试仪满足精度要求,否则,所述静态机械参数测试仪不合格。

3.根据权利要求1所述的精度分析方法,其特征在于,所述精度分析方法还包括以下步骤:

判断一重复次数是否达到一第三预设值,如果是则结束精度分析,否则更换所述磁头弹簧片组件,并当更换后的磁头弹簧片组件分别位于所述第一高度与所述第二高度时,对所述静态机械参数测试仪进行精度分析。

4.根据权利要求2所述的精度分析方法,其特征在于,所述第一预设值为0-0.1度,所述第二预设值为0-0.1度。

5.一种HGA工装,其特征在于,该HGA工装模拟磁头臂组件中的传动手臂,并对该磁头臂组件中的磁头弹簧片组件进行磁头倾斜角的测试及比较,以完成对静态机械参数测试仪的精度分析,其包括一本体及一压紧件,其中,

所述本体包括依次连接的一承载部及一定位部,所述承载部上设有用于承载所述磁头弹簧片组件的一承载面,所述定位部上设有用于实现两种不同高度的一第一定位基准面及一第二定位基准面,且所述承载面位于所述第一定位基准面与所述第二定位基准面之间,以所述第二定位基准面与所述承载面之间的距离为一第一高度,以所述第一定位基准面与所述承载面之间的距离为一第二高度,所述定位部上还设有一连通所述第一定位基准面与所述第二定位基准面的定位基准孔,以使所述HGA工装可定位于所述静态机械参数测试仪上;

所述压紧件设于所述本体上方,其包括一压紧部及一弹性部,所述弹性部连接于所述压紧部,以使所述压紧部可靠近或远离所述承载面。

6.根据权利要求5所述的HGA工装,其特征在于,所述HGA工装还包括一与所述压紧件配合的旋转件,所述旋转件包括一分隔销、一旋转臂及一旋转轴,所述分隔销连接于所述旋转臂而放置在所述承载部的一突起端上,所述旋转臂可绕所述旋转轴上下转动以使所述分隔销可靠近或远离所述突起端。

7.根据权利要求5所述的HGA工装,其特征在于,所述HGA工装还包括一定位销,所述定位销可活动地设于所述承载部的一容置孔内,以固定所述磁头弹簧片组件于所述承载面上。

8.根据权利要求7所述的HGA工装,其特征在于,所述HGA工装还包括一透光槽,所述透光槽位于所述定位销与所述压紧件之间而设于所述承载部上,以便于对HGA的装配状态进行检测。

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