[发明专利]一种基于离散时间增量型ΣΔADC的X射线CCD读出系统在审
申请号: | 201410388116.7 | 申请日: | 2014-08-08 |
公开(公告)号: | CN104168022A | 公开(公告)日: | 2014-11-26 |
发明(设计)人: | 曹骁飞;王艳朝;易婷;洪志良 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H03M1/12 | 分类号: | H03M1/12;G01T1/20 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 离散 时间 增量 adc 射线 ccd 读出 系统 | ||
1. 一种基于离散时间增量型ΣΔADC的X射线读出系统,由前端读出电路(1)、离散时间增量型ΣΔADC(2)和数字控制单元(3)组成,其特征在于:
所述的前端读出电路(1)的Vinp输入端、Vinn输入端分别与外部的模拟输入信号Vinp、Vinn相连;其clamp1输入端、clamp2输入端、DAC_en输入端分别与所述的数字控制单元(2)的clamp1输出端、clamp2输出端、DAC_en输出端相连;其Voutp输出端、Voutn输出端分别与所述的离散时间增量型ΣΔADC(3)的Vinp输入端、Vinn输入端相连;
所述的数字控制单元(2)的CLK输入端与外部的时钟输入信号CLK相连;其RST输入端与外部的CCD复位同步信号RST相连;其CS输入端、SCLK输入端、MOSI输入端分别与外部的SPI写入信号CS、SCLK、MOSI相连;其CLK1输出端、RST1输出端、deint1输出端、int1输出端、post1输出端分别与所述的离散时间增量型ΣΔADC(3)的CLK1输入端、RST1输入端、deint1输入端、int1输入端、post1输入端相连;其CLK2输出端、RST2输出端、deint2输出端、int2输出端、post2输出端分别与所述的离散时间增量型ΣΔADC(3)的CLK2输入端、RST2输入端、deint2输入端、int2输入端、post2输入端相连;
所述的离散时间增量型ΣΔADC(3)的Vcom输入端与外部的模拟共模信号Vcom相连;其输出与Dout输出端相连,输出读出系统的处理结果。
2. 根据权利要求1所述的基于离散时间增量型ΣΔADC的X射线读出系统,其特征在于:
所述的前端读出电路(1)由两个跨导放大器、8个电容、四个开关和1个DAC组成;其中,电容C1p的一端与所述输入端Vinp相连,另一端与跨导放大器OTA1的同相输入端、开关S1p的一端和电容C2p的一端相连;电容C1n的一端与所述输入端Vinn相连,另一端与跨导放大器OTA1的反相输入端、开关S1n的一端和电容C2n的一端相连;电容C2p的另一端、开关S1p的另一端、电容C3p的一端与跨导放大器OTA1的反相输出端相连;电容C2n的另一端、开关S1n的另一端、电容C3n的一端与跨导放大器OTA1的同相输出端相连;电容C3p的另一端与跨导放大器OTA2的同相输入端、开关S2p的一端、电容C5p的一端和电容C4p的一端相连;电容C3n的另一端与跨导放大器OTA2的反相输入端、开关S2n的一端、电容C5n的一端和电容C4n的一端相连;电容C4p的另一端、开关S2p的另一端、跨导放大器OTA2的反相输出端与所述输出端Voutp相连;电容C4n的另一端、开关S2n的另一端、跨导放大器OTA2的同相输出端与所述输出端Voutn相连;开关S1p的控制端和开关S1n的控制端与所述输入端clamp1相连;开关S2p的控制端和开关S2n的控制端与所述输入端clamp2相连; DAC的输入控制信号与所述输入端DAC_en相连;电容C5p的另一端与DAC的同相输出端相连;电容C5n的另一端与DAC的反相输出端相连。
3. 根据权利要求1所述的基于离散时间增量型ΣΔADC的X射线读出系统,其特征在于:
所述的数字控制单元(2)由SPI模块、清零信号发生电路和clamp状态机、channel1状态机和channel2状态机组成;外部输入时钟信号CLK与清零信号发生电路和上述三个状态机相连;外部输入清零信号RST与清零信号发生电路和clamp状态机相连;清零信号发生电路产生通道1的清零信号RST1和通道2的清零信号RST2,分别与状态机channel1和状态机channel2相连;外部输入信号MOSI、CS和SCLK与SPI相连,SPI的输出sdac、sclamp1和sclamp2与状态机clamp相连,SPI的输出S1-S7与状态机channel1和状态机channel2相连;数字控制单元(2)通过写入SPI寄存器的值实现对前端读出电路(1)中的钳位开关导通时间和ADC采样时间的配置。
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