[发明专利]元器件FMEA分析层次划分方法与系统

权利要求书

1.一种元器件FMEA分析层次划分方法，其特征在于，包括步骤：

根据所述元器件的失效部位，将所述元器件分解为一个或者多个功能单元，其中，所述功能单元具有独立的失效机理；

获取元器件失效信息，根据所述元器件失效信息和预设层次划分需求，确定最低分析层级，其中，所述最低分析层级包括所述元器件失效信息完整的一个或者多个所述功能单元；

查找最低分析层级中每个功能单元的独立失效机理，并分析每种失效机理对应的失效影响，确定最低分析层级的失效影响；

待分析所述最低分析层级的上一分析层级失效影响时，将最低分析层级的失效模式作为失效影响，对所述最低分析层级的上一分析层级进行失效影响分析，依次类推，直至对元器件所有分析层级进行完失效影响分析，确定对整个元器件的失效影响；

根据所述对整个元器件的失效影响，对元器件进行可靠性分析。

2.根据权利要求1所述的元器件FMEA分析层次划分方法，其特征在于，所述获取元器件失效信息，根据所述元器件失效信息和预设层次划分需求，确定最低分析层级具体包括步骤：

获取元器件失效信息，根据所述元器件失效信息，查找所述一个或者多个功能单元中元器件失效信息完整的功能单元；

确定预设层次划分需求；

根据所述预设层次划分需求，选取所述元器件失效信息完整的功能单元，组合成最低分析层级。

3.根据权利要求1或2所述的元器件FMEA分析层次划分方法，其特征在于，所述根据所述元器件的失效部位，将所述元器件分解为一个或者多个功能单元之前还有步骤：

遍历元器件，识别元器件的失效部位。

4.根据权利要求1或2所述的元器件FMEA分析层次划分方法，其特征在于，所述根据所述元器件的失效部位，将所述元器件分解为一个或者多个功能单元具体包括步骤：

查找所述元器件的失效部位中，元器件失效发生的最小部位；

根据所述元器件失效发生的最小部位，将所述元器件分解为一个或者多个最小功能单元，其中，所述最小功能单元具有独立的失效机理。

5.根据权利要求1或2所述的元器件FMEA分析层次划分方法，其特征在于，所述待分析所述最低分析层级的上一分析层级失效影响时，将最低分析层级的失效模式作为失效影响，对所述最低分析层级的上一分析层级进行失效影响分析，依次类推，直至对元器件所有分析层级进行完失效影响分析，确定对整个元器件的失效影响具体包括步骤：

待分析所述最低分析层级的上一分析层级失效影响时，将最低分析层级的失效模式作为失效影响，对所述最低分析层级的上一分析层级进行失效影响分析，依次类推，直至对元器件所有分析层级进行完失效影响分析；

根据各个分析层级的失效影响，构建元器件的失效影响层级结构；

存储所述元器件的失效影响层级结构；

根据所述元器件的失效影响层级结构，确定对整个元器件的失效影响。

6.一种元器件FMEA分析层次划分系统，其特征在于，包括：

分解模块，用于根据所述元器件的失效部位，将所述元器件分解为一个或者多个功能单元，其中，所述功能单元具有独立的失效机理；

最低分析层级确定模块，用于获取元器件失效信息，根据所述元器件失效信息和预设层次划分需求，确定最低分析层级，其中，所述最低分析层级包括所述元器件失效信息完整的一个或者多个所述功能单元；

最低分析层级的失效影响确定模块，用于查找最低分析层级中每个功能单元的独立失效机理，并分析每种失效机理对应的失效影响，确定最低分析层级的失效影响；

失效影响分析模块，用于待分析所述最低分析层级的上一分析层级失效影响时，将最低分析层级的失效模式作为失效影响，对所述最低分析层级的上一分析层级进行失效影响分析，依次类推，直至对元器件所有分析层级进行完失效影响分析，确定对整个元器件的失效影响；

可靠性分析模块，用于根据所述对整个元器件的失效影响，对元器件进行可靠性分析。