[发明专利]带遗忘因子的线性回归性能评估方法有效

专利信息
申请号: 201410403756.0 申请日: 2014-08-15
公开(公告)号: CN104199296B 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 王昕;刘学彦 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G05B13/04 分类号: G05B13/04
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司31236 代理人: 胡晶
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 遗忘 因子 线性 回归 性能 评估 方法
【权利要求书】:

1.一种带遗忘因子的线性回归性能评估方法,适用于乙烯裂解炉控制系统,其特征在于,包括如下步骤:

S1:在裂解炉系统控制回路中采集控制回路的过程数据,利用相关性分析法估计出实际数据与设定值的采样延迟时间d;

S2:对所述过程数据采用时间序列分析技术建立线性带遗忘因子的过程扰动模型,并通过最小二乘法辨识出回归参数;

S3:根据公式模型,估计出所述过程扰动模型输出残差的均方误差作为最小方差标准

S4:计算采集数据的实际方差

S5:计算Harris指标,获得控制回路的性能指标;

步骤S1中所述过程数据为一次采集获得的设定值Ysp和实际数据Yt,且所述设定值Ysp在一时间区间内有缓慢变化趋势;

步骤S2包括如下步骤:

经时间序列分析得:

yt-uy=F(z-1)at+L(z-1)at-d

式中,a是白噪声序列,F表示整理得到的反馈不变项,L是一个与F有关的正则传递函数;当设定值Ysp不为0时,yt=Yt-Ysp是实际数据与设定值的偏差,uy为yt的平均值;

设F(z-1)at=et,得到:

<mrow><msub><mi>y</mi><mi>t</mi></msub><mo>-</mo><msub><mi>u</mi><mi>y</mi></msub><mo>=</mo><msub><mi>e</mi><mi>t</mi></msub><mo>+</mo><mo>&lsqb;</mo><msub><mi>y</mi><mrow><mi>t</mi><mo>-</mo><mi>d</mi></mrow></msub><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>k</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>m</mi></msubsup><msub><mi>&alpha;</mi><mi>k</mi></msub><mo>&lsqb;</mo><msub><mi>y</mi><mrow><mi>t</mi><mo>-</mo><mi>d</mi><mo>-</mo><mi>k</mi><mo>+</mo><mn>1</mn></mrow></msub><mo>-</mo><msub><mi>u</mi><mi>y</mi></msub><mo>&rsqb;</mo><mo>&rsqb;</mo></mrow>

其中,参数m既是滑动平均项中模型所取的前m项,又是回归参数矩阵αk的维数,m越大误差就越小,取5≤m≤30;

由此可以得到模型矩阵:

<mrow><munder><mover><mi>y</mi><mo>~</mo></mover><mo>&OverBar;</mo></munder><mo>=</mo><mover><mi>x</mi><mo>~</mo></mover><munder><mi>&alpha;</mi><mo>&OverBar;</mo></munder><mo>+</mo><munder><mi>e</mi><mo>&OverBar;</mo></munder></mrow>

对于回归参数矩阵α,运用最小二乘法辨识得到:

<mrow><mo>(</mo><msup><mrow><mo>(</mo><mover><mi>x</mi><mo>~</mo></mover><mo>)</mo></mrow><mi>T</mi></msup><mover><mi>x</mi><mo>~</mo></mover><mo>)</mo><munder><mover><mi>&alpha;</mi><mo>^</mo></mover><mo>&OverBar;</mo></munder><mo>=</mo><msup><mrow><mo>(</mo><mover><mi>x</mi><mo>~</mo></mover><mo>)</mo></mrow><mi>T</mi></msup><munder><mover><mi>y</mi><mo>~</mo></mover><mo>&OverBar;</mo></munder><mo>.</mo></mrow>

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