[发明专利]一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法及系统

权利要求书

1.一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，包括：

按照配置的老化特性测试参数启动晶振测量单元，以监控待测晶体振荡器；

按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号以采集待测晶体振荡器在对应时间点的频率；

接收晶振测量单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率；

当确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成时，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性。

2.根据权利要求1所述的晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，所述老化特性测试参数包括：待测晶体振荡器的工作电压、电流、温湿度以及通电烧钟延时；

所述按照预先配置的老化特性测试参数启动晶振测量单元具体为：

向晶振测量单元发送配置参数信息启动晶振测量单元，使其为待测晶体振荡器提供对应的工作电压、电流、温湿度条件。

3.根据权利要求1所述的晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，所述频率采集时间间隔为0.5～2小时。

4.根据权利要求1所述的晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，所述确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成的方式为：当接收到的所述频率的个数达到预设的总采集数时，确定为待测晶体振荡器的老化特性测试完成。

5.根据权利要求1所述的晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，所述对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性具体包括:

分别计算各频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值；

根据所述频率差值、对应的采集时间得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线；其中，以采集时间作为X轴，以频率差值作为Y轴；

根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性。

6.根据权利要求5所述的晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，所述根据所述频率差值、对应的采集时间得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线具体包括：

对所述频率差值组成的数据集进行移动平均滤波处理，以滤掉噪声数据；

根据滤波之后的频率差值数据集、对应的采集时间点得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线。

7.根据权利要求5所述的晶体振荡器老化特性的自动测试方法，其特征在于，所述根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性，包括：

根据所述XY坐标老化曲线得出对应的曲线方程式，计算该曲线方程式在设定的老化测试时间段内的最大值M和最小值N；

通过公式(M-N)/t计算出待测晶体振荡器的日老化率；其中，t为老化测试的总天数；

根据所述日老化率模拟计算得出待测晶体振荡器的年老化率；

将所述日老化率、年老化率与预设的该待测晶体振荡器的老化特性指标进行比较，确定出待测晶体振荡器的老化特性是否合格。

8.一种晶体振荡器老化特性的自动测试系统，其特征在于，包括晶振测量单元、与所述晶振测量单元通信连接的测量控制单元，其中，

所述测量控制单元包括：

参数配置子单元，用于配置老化特性测试参数，向所述晶振测量单元发送参数配置信息；

流程控制子单元，用于按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号；

频率接收子单元，用于接收晶振测量单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率；

数据处理子单元，用于当确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成时，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性；

所述晶振测量单元，用于根据所述参数配置信息为待测晶体振荡器提供的对应的测试环境；以及用于根据所述频率采集信号测量待测晶体振荡器在对应时间点的频率。

9.根据权利要求8所述的晶体振荡器老化特性的自动测试系统，其特征在于，所述测量控制单元与所述晶振测量单元通过RS232通信接口和USB数据接口连接；

所述测量控制单元通过RS232通信接口以数据包的形式向所述晶振测量单元发送参数配置信息，所述晶振测量单元通过USB数据接口向所述测量控制单元返回测量到的待测晶体振荡器在对应时间点的频率。

10.根据权利要求8所述的晶体振荡器老化特性的自动测试系统，其特征在于，所述对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性具体包括：

分别计算各所述频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值；

对所述频率差值组成的数据集进行移动平均滤波处理，以滤掉噪声数据；

根据滤波之后的频率差值数据集、对应的采集时间点得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线，其中，以采集时间作为X轴，以频率差值作为Y轴；

根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性。