[发明专利]超声波探伤传感器以及超声波探伤方法在审

专利信息
申请号: 201410408782.2 申请日: 2014-08-19
公开(公告)号: CN104422732A 公开(公告)日: 2015-03-18
发明(设计)人: 铃木丰;千叶弘明;工藤健 申请(专利权)人: 三菱日立电力系统株式会社
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/44
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 曾贤伟;文志
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 超声波 探伤 传感器 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种超声波探伤传感器,通过二维排列长方形的超声波元件而构成,其特征在于,

使超声波元件的最长的边的长度为发送超声波的波长以下。

2.一种超声波探伤传感器,通过二维排列六角形的超声波元件而构成,其特征在于,

使超声波元件的最长的对角线的长度为发送超声波的波长以下。

3.一种超声波探伤传感器,通过二维排列三角形的超声波元件而构成,其特征在于,

使超声波元件的最长的边的长度为发送超声波的波长以下。

4.根据权利要求3所述的超声波探伤传感器,其特征在于,

使超声波元件的最长的边的长度为发送超声波的波长以下,用相邻的2个三角形构成权利要求1所述的长方形。

5.根据权利要求3所述的超声波探伤传感器,其特征在于,

使超声波元件的最长的边的长度为发送超声波的波长的一半以下,用相邻的6个三角形构成权利要求2所述的传感器的一个6角形。

6.一种超声波探伤方法,其特征在于,

使用权利要求1~5中的任意一项所述的超声波探伤传感器,

具有:

输入超声波探伤条件和传感器的元件形状、元件间隔、元件数、元件排列的步骤;

决定用一个激励器同时进行激励的元件的步骤;

收发超声波来实施探伤的步骤;

根据探伤结果的SN比来评价用一个激励器同时进行激励的元件排列的恰当性的步骤;以及

在SN比不合适的情况下,再次决定用一个激励器同时进行激励的元件的步骤,

在2dsinθ=nλ中以n=1~2的范围调整用该一个激励器进行一并激励的元件的与超声波扫描方向平行的方向的长度d,

其中,λ为超声波波长,n为整数、θ为超声波入射角。

7.根据权利要求6所述的超声波探伤方法,其特征在于,

根据用一个激励器同时进行激励的元件的计算结果切换用一个激励器同时进行激励的元件。

8.根据权利要求6所述的超声波探伤方法,其特征在于,

根据栅瓣强度的测定值重复进行探伤直到使栅瓣强度为设定范围为止,变更用一个激励器同时进行激励的元件。

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