[发明专利]测试设备与相关方法

权利要求书

1.一种用于测试太阳能电池或其他电子装置的测试设备，包括：

用于进行测试的每个基板(150)的支撑套件(18)，其中所述支撑套件(18)包括多个测试孔洞(23)，每个测试孔洞(23)适于允许插置所述设备的相应的电气测试探针(42)，以使各探针(42)连接和/或接触所述基板(150)的对应测试区；以及

围绕每个测试孔洞(23)的多个吸引孔洞(24)。

2.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括支撑座(16)，所述支撑座(16)实质上为平坦且可在所述支撑座(16)的一个表面上直接或间接支撑进行电气测试的至少一个基板(150)或其它装置，其中所述支撑座(16)包括多个贯通孔洞(22)，各贯通孔洞适于插置所述测试设备的对应的电气测试探针(42)。

3.如权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括吸引构件(50)，所述吸引构件(50)从所述测试探针(42)所在的同侧布设在所述支撑座(16)内，且可操作地经由吸引线(52)而连接至支撑套件(18)中的吸引孔洞(24)，每个所述套件(18)包含在使用时可与所述支撑座(16)中的测试孔洞(22)对齐的测试孔洞(23)，以允许相应的测试探针(42)通过，所述吸引构件(50)通过所述套件(18)中的所述吸引线(52)与所述吸引孔洞(24)，经由压降对所述基板(150)的表面产生托持动作，以与所述测试探针(42)施加在所述测试区上的推挤动作相抗衡。

4.如权利要求1或2所述的测试设备，其特征在于，所述吸引构件(50)配置成与所述支撑座(16)的各贯通孔洞(22)配合运作。

5.如权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述吸引线(52)形成于所述套件(18)中，以限定吸引路径，所述吸引路径布设于各个所述测试孔洞(23)附近。

6.如权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述吸引线(52)具有吸引部分，这些吸引部分形成于各个测试孔洞(23)周围且至少部分围绕各个测试孔洞，每个部分通过所述吸引孔洞(24)连接至所述套件(18)的上表面。

7.如权利要求6所述的测试设备，其特征在于，所述吸引部分为四边形。

8.如权利要求6所述的测试设备，其特征在于，所述吸引部分为圆形。

9.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述吸引孔洞(24)的数量为五个至十个。

10.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述吸引孔洞(24)的数量为八个。

11.如权利要求6所述的测试设备，其特征在于，所述吸引孔洞(24)沿着各个吸引部分的配置而以规则方式分隔开。

12.如权利要求1或2所述的测试设备，其特征在于，所述支撑座(16)至少部分由非传导性材料所制成。