[发明专利]一种利用铍的超级卤素负离子进行加速器质谱测量的方法

权利要求书

1.一种利用铍的超级卤素负离子进行加速器质谱测量的方法，其特征在于，包括以下步骤：

(一)制备能够产出超级卤素负离子BeF₃^-的靶样品；

(二)向制备得到的靶样品中混入PbF₂粉末，然后填装入AMS测量用靶锥，在离子源中用Cs⁺离子持续轰击所述靶锥产生BeF₃^-束流；

(三)由离子源引出BeF₃^-束流，然后BeF₃^-束流通过低能端的静电分析器做初次能量筛选，接下来进入跳跃磁铁，再将BeF₃^-束流由低能端注入串列加速器，在所述串列加速器中剥离气体将分子离子击碎、¹⁰Be²⁺被加速至能量为5.97MeV，⁹Be²⁺被加速至能量为5.94MeV；

(四)¹⁰Be²⁺和⁹Be²⁺在高能端通过主分析磁铁，然后⁹Be²⁺进入可移动法拉第杯进行测量，¹⁰Be²⁺沿主束线通过；

(五)¹⁰Be²⁺沿主束线通过后直接通过主静电分析器和高能端第二块磁铁，最终进入气体探测器进行分析。

2.根据权利要求1所述的利用铍的超级卤素负离子进行加速器质谱测量的方法，其特征在于，在步骤(一)中，所述靶样品为含Be和F的盐类。

3.根据权利要求2所述的利用铍的超级卤素负离子进行加速器质谱测量的方法，其特征在于，在步骤(一)中，所述靶样品为BaBeF₄。

4.根据权利要求3所述的利用铍的超级卤素负离子进行加速器质谱测量的方法，其特征在于，在步骤(二)中，BaBeF₄靶样品与PbF₂粉末按照体积比1:2-1:5的比例混合。

5.根据权利要求1所述的利用铍的超级卤素负离子进行加速器质谱测量的方法，其特征在于，在步骤(三)中，所述跳跃磁铁的能量跳跃值为0V，-522V。