[发明专利]基于时间相关单光子计数技术的半透明材料辐射物性测量方法

权利要求书

1.基于时间相关单光子计数技术的半透明材料辐射物性测量方法，其特征在于：该方法通过以下装置实现，所述装置包括皮秒激光触发器(1)、激光头(2)、光纤耦合器(3)、光路准直系统(4)、雪崩光电二极管(5)、信号反转器(6)、脉宽整形器(7)、时间相关单光子计数模块(8)和个人电脑(9)；皮秒激光触发器(1)的一端通过电缆与脉宽整形器(7)的一端连接，皮秒激光触发器(1)的另一端通过电缆与激光头(2)的一端连接，光纤耦合器(3)设置在激光头(2)的另一端上，光纤耦合器(3)的输出端口通过光纤与光路准直系统(4)的入射端连接，光路准直系统(4)的出射端通过光纤与雪崩光电二极管(5)的一端连接，雪崩光电二极管(5)的另一端通过电缆与信号反转器(6)的一端连接，信号反转器(6)的另一端与时间相关单光子计数模块(8)的START端口连接，脉宽整形器(7)的另一端与时间相关单光子计数模块(8)的SYNC端口连接，时间相关单光子计数模块(8)设置在个人电脑(9)的内部；

所述方法包括以下步骤：

步骤一、将皮秒激光触发器(1)、雪崩光电二极管(5)和时间相关单光子计数模块(8)通电预热半个小时以上，然后打开皮秒激光触发器(1)，选择一个重复频率，让激光头(2)输出脉冲激光；

步骤二、将试件放置在光路准直系统(4)的夹具上，调整皮秒激光触发器(1)的输出功率，当时间相关单光子计数模块(8)上显示的计数率在激光重复频率的1/100，记录测量得到的时间扩展曲线和相应的测点位置；

步骤三、保持激光的重复频率和输出功率不变，对接光源光纤和探测光纤，测量得到脉冲激光的系统响应函数和时间延迟，利用测量得到的时间延迟对步骤二中测量得到的时间扩展曲线进行时间校正，并对时间扩展曲线进行归一化，得到试件表面的半球透射或者反射信号，将该反射信号作为半透明材料辐射物性，完成对半透明材料辐射物性的测量。

2.根据权利要求1所述的基于时间相关单光子计数技术的半透明材料辐射物性测量方法，其特征在于：根据步骤二测量得到的时间扩展曲线和相应的测点位置，按照有限体积法计算并联立半透明边界条件和三维非稳态辐射传递方程，代入试件的几何尺寸、测量位置、脉冲激光的系统响应函数、辐射物性参数即可求出测量位置上得到的半球透射信号或者反射信号的估计值；

边界条件为：

Iw(Ω)=ρπ∫2πIw(Ω′)·|cosθ′|·dΛ---(1)]]>

式中：I_w表示壁面上辐射强度；

Ω表示由环境侧指向介质侧的方向；

Ω′表示由介质侧指向环境侧的方向；

θ′表示投射方向与壁面法向的夹角；

Λ表示天顶角大小；

ρ表示边界上的反射率，它由下式近似得到：

ρ=12+(3n+1)(n-1)6(n+1)2+n2(n2-1)2(n2+1)3ln(n-1n+1)-2n3(n2+2n-1)(n2+1)(n4-1)+8n4(n4+1)(n2+1)(n4-1)2ln(n)---(2)]]>

式中：n表示介质折射率；

三维非稳态辐射传递方程为：

nc0∂I(r,s,t)∂t+∂I(r,s,t)∂Z=-βI(r,s,t)+κn2Ib(r,t)+σs4π∫4πI(r,s′,t)·Φ(s,s′)dΛ---(3)]]>

式中：c₀表示真空中光速；

I表示辐射强度大小；

r表示介质的位置向量；

s表示辐射强度的方向；

t表示时间；

Ζ表示距离；

κ表示介质的吸收系数；

σ_s表示介质的散射系数；

β表示介质的衰减系数；

I_b表示介质的本身辐射强度；

s′表示与s不同的辐射强度方向；

Φ表示散射相函数。