[发明专利]一种电磁屏的测试系统有效

专利信息
申请号: 201410419854.3 申请日: 2014-08-22
公开(公告)号: CN104215846A 公开(公告)日: 2014-12-17
发明(设计)人: 张少林;肖正强 申请(专利权)人: 深圳市威富多媒体有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 代理人: 王丹凤
地址: 518000 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 电磁 测试 系统
【说明书】:

技术领域

发明属于电磁屏测试技术领域,尤其涉及一种电磁屏的测试系统。

背景技术

目前,信息化建设程度正在不断加深,相关法律法规也正在逐步完善,各个行业和各个领域的无纸化应用越来越广泛,在低碳、减排、绿色经济的号召下,传统办公领域的众多场景都面临着向无纸化、电子化转变,随着《电子签名法》的颁布实施,信息化技术的发展成熟,无纸化签批将成为必然的发展趋势。

无纸化签批盛行的同时,衍生出一系列关于无纸化签批硬件——电磁屏的品质性能检验问题。目前,对电磁屏的性能测试仍然没有一个统一、完善的测试标准和系统,相关电磁屏厂商只对电磁屏做简单的人工测试,测试项目仅仅停留在是否能够书写、书写时是否有不同的压感级别的阶段,人工测试成本较高,而对电磁屏的其它各项性能譬如压感线性度、坐标准确性、盲区检测等全方位的品质测试则为了节俭成本不进行测试,因此,现有电磁屏的测试系统不能自动、全面地测试电磁屏以保障签批使用过程中的唯一性、可靠性。

发明内容

本发明实施例提供了一种电磁屏的测试系统,旨在解决现有电磁屏的测试系统不能自动、全面地测试电磁屏的问题。

提供一种电磁屏的测试系统,所述系统包括:上位机、下位机、电磁笔和待测电磁屏,所述上位机与所述下位机通过串口连接通讯,所述待测电磁屏通过USB接口与所述上位机进行通讯,所述上位机包括:

指令发送单元,用于通过连接下位机的串口发送携带预设测试数据的控制指令;

结果接收单元,用于通过与待测电磁屏连接的USB接口接收所述待测电磁屏的测试结果;

结果对比单元,用于对比所述预设测试数据和所述测试结果是否一致,如果是,则所述待测电磁屏的性能正常,如果否,则记录所述待测电磁屏的不良测试结果;

所述下位机包括:

指令接收单元,用于通过与上位机连接的串口接收携带预设测试数据的控制指令;

签批控制单元,用于控制所述电磁笔在待测电磁屏上按照所述预设测试数据进行测试签批;

所述待测电磁屏包括:

结果获取单元,用于通过所述待测电磁屏的电磁天线板与所述电磁笔产生电磁感应,所述电磁笔反馈电磁信号给所述电磁天线板,所述电磁天线板接收所述电磁信号,获取电磁笔的签批,所述签批包括实际坐标值和实际压感值。

结果发送单元,用于接收所述下位机控制的电磁笔的签批,并将所述测试结果通过USB接口发送至所述上位机。

在本发明实施例,通过上位机、下位机、电磁笔和待测电磁屏构成一个测试闭环系统,实现了全面、自动化测试,减少人工成本。

附图说明

图1是本发明实施例一提供的远程数据管理的系统的具体结构框图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。

以下结合具体实施例对本发明的实现进行详细描述:

实施例一

图1示出了本发明实施例一提供的电磁屏的测试系统的具体结构框图,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分。在本实施例中,该电磁屏的测试系统包括:上位机1、下位机2、电磁笔3和待测电磁屏4。其中,所述上位机1与所述下位机2通过串口连接通讯,所述待测电磁屏4通过USB接口与所述上位机1进行通讯,所述待测电磁屏4固定于所述下位机2的底座上。

其中,所述上位机1包括:

指令发送单元11,用于通过连接下位机的串口发送携带预设测试数据的控制指令;

在本实施例中,所述预设测试数据包括拷机、电磁天线板品质测试、电磁笔品质测试等各类数据,是上位机根据测试类型设定测试数据,具体如电磁笔需到达的坐标值和移动过程中的压感值,其中,压感值用于检测电磁笔的压感线性度、坐标值用于检测电磁屏的坐标准确性以及盲区等。所述控制指令是上位机通过串口发送至下位机以控制下位机以不同的压感值移动电磁笔并按照坐标值进行签批的指令。

结果接收单元12,用于通过与待测电磁屏连接的USB接口接收所述待测电磁屏的测试结果;

在本实施例中,所述测试结果是电磁屏通过USB接口反馈的,包括所述下位机控制的电磁笔签批的实际坐标值和实际压感值。

结果对比单元13,用于对比所述预设测试数据和所述测试结果是否一致,如果是,则所述待测电磁屏的性能正常,如果否,则记录所述待测电磁屏的不良测试结果;

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