[发明专利]晶体振荡器在审
申请号: | 201410421426.4 | 申请日: | 2014-08-25 |
公开(公告)号: | CN104426478A | 公开(公告)日: | 2015-03-18 |
发明(设计)人: | 依田友也 | 申请(专利权)人: | 日本电波工业株式会社 |
主分类号: | H03B5/04 | 分类号: | H03B5/04 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 臧建明 |
地址: | 日本东京涉谷区笹*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体振荡器 | ||
1.一种晶体振荡器,其特征在于包括:
晶体振子;
振荡电路,用以使所述晶体振子振荡;
振子用温度检测部,用以对所述晶体振子所放置的环境的温度进行检测;
振子用加热部,为了以所述晶体振子所放置的环境的温度为固定的方式进行补偿,而根据所述振子用温度检测部的检测温度控制其输出;
振荡电路用温度检测部,为了对所述振荡电路所放置的环境的温度进行检测而与振子用温度检测部分开地设置;以及
振荡电路用加热部,为了以所述振荡电路所放置的环境的温度为固定的方式进行补偿,而根据所述振荡电路用温度检测部的检测温度,与所述振子用加热部独立地控制其输出。
2.根据权利要求1所述的晶体振荡器,其特征在于:
所述振荡电路所放置的环境、与所述晶体振子所放置的环境,为包围所述振荡电路及晶体振子的恒温槽内的环境。
3.根据权利要求1或2所述的晶体振荡器,其特征在于:
所述振荡电路包含于集成电路中,
在所述集成电路设置着所述振荡电路用加热部及振荡电路用温度检测部。
4.根据权利要求1或2所述的晶体振荡器,其特征在于:
所述振荡电路包含于集成电路中,
在所述集成电路设置着第一发热体,
在所述集成电路的外部设置着第二发热体,
设置着选择机构,所述选择机构选择使用所述第一发热体及第二发热体中的其中一个来作为所述振荡电路用加热部。
5.根据权利要求1或2所述的晶体振荡器,其特征在于:
所述振荡电路包含于集成电路中,
在所述集成电路设置着第一温度传感器,
在所述集成电路的外部设置着第二温度传感器,
设置着选择机构,所述选择机构选择使用所述第一温度传感器及第二温度传感器中的其中一个来作为所述振荡电路用温度检测部。
6.根据权利要求1或2所述的晶体振荡器,其特征在于:
设置着第一晶体振子与第二晶体振子来作为所述晶体振子,
设置着使所述第一晶体振子振荡的第一振荡电路、及使第二晶体振子振荡的第二振荡电路来作为所述振荡电路,
所述振子用加热部对第一晶体振子及第二晶体振子进行加热,
所述振荡电路用加热部对第一振荡电路及第二振荡电路进行加热。
7.根据权利要求6所述的晶体振荡器,其特征在于:
设置着
差分信号输出部,输出和第一振荡电路的振荡输出与第二振荡电路的振荡输出的差分相对应的差分信号;
控制信号输出部,根据所述差分信号输出用以抑制基于第一振荡电路的振荡输出的温度特性的影响的控制信号,且
包括振荡部,所述振荡部根据所述控制信号来控制振荡输出。
8.根据权利要求7所述的晶体振荡器,其特征在于:
用以抑制基于第一振荡电路的振荡输出的温度特性的影响的控制信号为如下信号,即,所述信号基于第一振荡电路的振荡输出的从基准温度时的第一振荡电路的振荡输出的值算起的变化量、和对应于第一振荡电路的振荡输出与第二振荡电路的振荡输出的差分的信号的关系,且相当于针对基准温度时的第一振荡电路的振荡输出的频率修正值。
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