[发明专利]一种用于功率晶体管的内匹配结构在审

专利信息
申请号: 201410425387.5 申请日: 2014-08-27
公开(公告)号: CN104218029A 公开(公告)日: 2014-12-17
发明(设计)人: 曾大杰;尹利娟;张耀辉 申请(专利权)人: 昆山华太电子技术有限公司
主分类号: H01L23/66 分类号: H01L23/66;H01L23/64
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 范晴
地址: 215300 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 功率 晶体管 匹配 结构
【说明书】:

技术领域

发明涉及功率器件领域,具体涉及一种用于增加功率器件在低频时的阻抗值的内匹配结构。

背景技术

功率器件,主要是基于RF LDMOS结构的功率器件,通常包含以下部分:功率器件管芯,通常是RF LDMOS管芯,输入内匹配电容、输出内匹配电容。如图1所示,在输入端键合线从管芯M1上打到输入内匹配电容Cin上、再从输入内匹配电容Cin上打到输入引脚上,而在输出端键合线从管芯上同时打到输出内匹配电容Cout与输出引脚上。图2是图1的电路图,如图2所示,L1、L2、L3和L4是键合线电感,Cin和Cout是MOSCAP电容,M1是功率器件管芯。

目前的功率器件在低频下,由于电感的电感值jWL,需要的电感L值很大。大的电感值可以通过减小电感线的根数实现,但是每根电感线上可以承受的电流是有限的。目前采用的电感线通常是铝(Al)线,直径为50um,能够承受的最大电流为1-1.5A,由此可见,电感值可以增加的空间非常有限。

目前常采用以下手段来增加电感线的电感值:

1.      通过增加电感线的拱高来实现,但是电感线高的拱高设计给生产上带来了困难;

2.      增加电容跟功率器件管芯的距离,但是这个会增加功率晶体管的体积,增加功率晶体管的成本。

发明内容

本发明目的在于针对现有技术所存在的不足,提供一种用于功率晶体管的内匹配结构,其在有限空间内可以有效的增加电感值,以减小功率晶体管的体积。

为了解决现有技术中的这些问题,本发明提供的技术方案是:

一种用于功率晶体管的内匹配结构,包括管芯、连接管芯与输入端或者输出端的匹配电容,其特征在于,所述匹配电容包括一个主电容和至少一个电容值接近于0的次电容,键合线从管芯打到次电容,次电容间以及次电容与主电容间通过键合线连接。

进一步的,所述次电容的电容值小于10pF。

进一步的,与主电容布置位置相比,所述次电容布置位置更靠近输入或者输出引脚。

进一步的,所述输入端或者输出端与主电容连接。

进一步的,所述输入端或者输出端与管芯连接。

相对于现有技术中的方案,本发明的优点是:

本发明所描述的用于功率晶体管的内匹配结构,通过次电容的设置,键合线从管芯打到次电容上再从次电容打到主电容上,这就拉长了键合线的长度,换句话说也就拉长了管芯到主电容的距离,从而达到增加电感线电感的目的,在不增加功率晶体管体积的情况下有效增加键合线的电感值,从而使得生产处的功率晶体管更适用于低频的应用。

附图说明

下面结合附图及实施例对本发明作进一步描述:

图1为传统功率晶体管的键合线打线图;

图2为图1所示功率晶体管结构的电路图;

图3为本发明第一实施例中输出内匹配结构部分T型匹配的键合线打线图;

图4为图3所示内匹配结构的电路图;

图5为本发明第一实施例中输出内匹配结构部分L型匹配的键合线打线图;

图6为图5所示内匹配结构的电路图;

图7为本发明第二实施例中输出内匹配结构部分T型匹配的键合线打线图;

图8为图7所示内匹配结构的电路图。

具体实施方式

以下结合具体实施例对上述方案做进一步说明。应理解,这些实施例是用于说明本发明而不限于限制本发明的范围。实施例中采用的实施条件可以根据具体厂家的条件做进一步调整,未注明的实施条件通常为常规实验中的条件。

实施例1:

在本实施例中,以输出内匹配结构为例,输入内匹配结构可参考输出内匹配结构设置。

在本实施例中,输出内匹配结构中设有一个主电容、一个次电容,与主电容布置位置相比,次电容更靠近输出引脚。键合线打在主电容与次电容、次电容与管芯、管芯与输出引脚之间,用于增加键合线电感值。另外,本发明中所采用的次电容小于10pF,基本上接近于0。次电容的作用可视为“桥墩”,其目的就是用于增加电感值。

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