[发明专利]航天电子器件检测装置有效
申请号: | 201410425877.5 | 申请日: | 2014-08-26 |
公开(公告)号: | CN104181423B | 公开(公告)日: | 2017-01-11 |
发明(设计)人: | 唐传军;周斌;沈绍祥;方广有 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心11120 | 代理人: | 郭德忠,仇蕾安 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 航天 电子器件 检测 装置 | ||
技术领域
本发明属于检验检测技术领域,具体涉及一种电子器件检测装置。
背景技术
航天器件都需要对批量器件进行筛选,对元器件的性能也要做大量的检测,现有的器件检测装置大多为通用器件检测装置,结构复杂,操作过程繁琐,难以重复多次检测。因此需要一种比较合适的检测装置,能方便操作,同时有效保护器件。
发明内容
本发明的目的是:为满足检测需求,提供一种适用于多种相同类型的航天电子器件检测装置;
本发明的技术方案是:航天电子器件检测装置,它包括:固定板、电路板、导向柱、滑动组件、弹簧以及锁定组件;
滑动组件包括:滑柱组件、滑块、滑柱压簧、绝缘压件以及中心柱压件;滑柱组件包括:一根中心柱以及布置在中心柱周围的四根支柱;滑柱组件套接在滑块内,滑柱组件的顶部与滑柱组件的上盖板之间设有滑柱压簧;中心柱压件安装在中心柱的底部,绝缘压件安装在四根支柱的底部;
电路板的两侧设有测试用接头,在电路板上设置有测试用触点;
电路板以及两根导向柱固定安装于固定板,滑动组件通过其滑块安装在套接有弹簧的两根导向柱上,弹簧的两端分别与滑块、固定板相抵触;检测时,将待检测的电子器件放置于电路板上,下移滑块,令滑柱组件上的绝缘压件以及中心柱压件在滑柱压簧的作用下将待检测的电子器件弹性压接在电路板上,待检测的电子器件的管脚与测试用触点弹性接触,利用锁定组件将滑动组件的位置固定,通过测试用接头接通电路板即可进行检测;检测完成后,释放锁定组件,令滑动组件在弹簧的作用下,向上运动,与电子器件脱离接触。
有益效果是:1、本发明可达到多次检测不损伤器件,同时操作方便,结构简单,适用于多种相同类型器件性能检测。
2、本发明采用弹性装置压接器件管脚与电路板触点来控制电路的通断完成器件检测。弹性装置的压力由压缩弹簧提供,测试位置的锁定靠锁定装置完成,有效保护器件。
附图说明
图1为本发明一种实现方式的结构示意图;
图2为图1的AA向视图;
图3为图1的BB向视图;
图4为本发明中滑动组件的结构示意图;
图5为检测电路连接示意图;
图6为本发明的另一种实现方式的结构示意图;
其中:1-固定板、3-电路板、31-测试用触点、32-测试用接头、4-导向柱、5-滑动组件、51-滑柱组件、52-滑块、53-滑柱压簧、55-上盖板、56-绝缘压件、57-中心柱压件、6-弹簧、61-拉钩、62-弹性滑块、63-蝶形螺母。
具体实施方式
参见附图1,航天电子器件检测装置,它包括:固定板1、电路板3、导向柱4、滑动组件5、弹簧6以及锁定组件;
参见附图4,滑动组件5包括:滑柱组件51、滑块52、滑柱压簧53、绝缘压件56以及中心柱压件57;滑柱组件51包括:一根中心柱以及布置在中心柱周围的四根支柱;滑柱组件51套接在滑块52内,滑柱组件51的顶部与滑柱组件51的上盖板55之间设有滑柱压簧53;中心柱压件57安装在中心柱的底部,绝缘压件56安装在四根支柱的底部;
参见附图2、3,锁定组件包括:固定在滑动组件5上的拉钩61以及设置在固定板1两侧的弹性滑块62;
参见附图5,电路板3的两侧设有测试用接头32,在电路板3上设置有测试用触点31;
电路板3以及两根导向柱4固定安装于固定板1,滑动组件5通过其滑块52安装在套接有弹簧6的两根导向柱4上,弹簧6的两端分别与滑块52、固定板1相抵触;检测时,将待检测的电子器件放置于电路板3上,下移滑块52,令滑柱组件51上的绝缘压件56以及中心柱压件57在滑柱压簧53的作用下将待检测的电子器件弹性压接在电路板3上,待检测的电子器件的管脚与测试用触点31弹性接触,利用拉钩61勾住弹性滑块62即可将滑动组件5的位置固定,通过测试用接头32接通电路板3即可进行检测;检测完成后,释放锁定组件,将弹性滑块62向内按压,实现与拉钩61的脱离,令滑动组件5在弹簧6的作用下,向上运动,与电子器件脱离;
本发明的另一种实现方式是将锁定组件选用为蝶形螺母63;蝶形螺母63与导向柱4螺纹配合,将滑动组件5的位置固定。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电子学研究所,未经中国科学院电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410425877.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。